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面議型號
ZEM20臺式掃描電鏡品牌
安徽澤攸產(chǎn)地
安徽樣本
暫無探測器：
BSE、SE加速電壓：
-電子槍：
-電子光學(xué)放大：
-光學(xué)放大：
-分辨率：
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澤攸科技推出的ZEM系列臺式掃描電鏡，融合了眾多創(chuàng)新技術(shù)，不僅成像效果**，而且便于攜帶，能夠滿足多樣化的應(yīng)用需求。在國內(nèi)外，ZEM系列以其高端定位和多樣化型號，已在成像清晰度、用戶友好性以及系統(tǒng)整合性等方面達(dá)到了先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)。
該系列產(chǎn)品以其高度的集成性和多樣化的配置選項(xiàng)而著稱，用戶界面簡潔，易于學(xué)習(xí)和操作，即使是非專業(yè)用戶也能迅速掌握。配備的軟件支持整個工作流程，從樣品準(zhǔn)備、參數(shù)調(diào)整到圖像分析，提供了一體化的高效解決方案。ZEM系列在新材料、新能源、生物醫(yī)藥和半導(dǎo)體等多個領(lǐng)域均顯示出了其強(qiáng)大的分析能力，助力科研工作者深入探索微觀世界的神秘。因其**的性價比，ZEM系列已成為眾多高校、研究機(jī)構(gòu)和企業(yè)重點(diǎn)選擇的臺式掃描電鏡。
產(chǎn)品參數(shù)：
產(chǎn)品特色：
▲ 真空分隔技術(shù) ：采用獨(dú)特真空設(shè)計(jì)，電子槍和樣品倉真空分離，換樣時間小于1min。
▲ 超大樣品倉：提供了更大的樣品存儲空間，方便用戶操作。
▲ 超高分辨率：極限放大倍數(shù)達(dá)到36萬倍，分辨率4nm@20kV。
▲ 選配減速模式：允許弱導(dǎo)電樣品在不噴金的情況下進(jìn)行觀察。
▲ 倉內(nèi)攝像頭：樣品倉內(nèi)置高清攝像頭，原位實(shí)驗(yàn)時可實(shí)時監(jiān)測樣品原位變化。
可拓展原位電鏡附件列表：
SEM芯片加熱臺，SEM加熱爐，SEM電池臺，SEM液體電化學(xué)臺，SEM氣體臺，SEM拉伸臺，SEM-TEC冷臺，SEM液氮冷臺，SEM電學(xué)探針臺，SEM通光等掃描電鏡原位測試系統(tǒng) 。
暫無數(shù)據(jù)！
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