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硅漂移探測器（SDD）設計能提高分析鎘和鉛等RoHS物質的準確度和速度。新優(yōu)化的x射線照射方法可提高分析不平坦和不規(guī)則表面的可重現性。此外，高性能探測器能提高計數率，增加探測痕量元素的精密度，并且實現測量較輕元素的**能力。為了確保高生產率，將黃銅中鎘的篩查（通常是XRF RoHS篩查中具挑戰(zhàn)性的一項）功能設計成比傳統型號速度更快，從而大幅提高通量。
該軟件的一項內置功能可直觀標記超出預設濃度限制的預定義元素。使用精密度控制軟件的EA1280一旦達到預定義參數將自動停止分析。可在預定義測量時間之前確定合格/失敗情況，由此可增加測量多件樣本的通量，從而節(jié)省時間且不會影響質量計劃。
除了RoHS篩查，EA1280也能夠辨別礦渣（硅、鈣、鋁和鎂）、聚合物、礦物、化學品和其他材料中的主要成分。
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