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大口徑元件吸收缺陷檢測(cè)儀品牌
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| 大口徑元件吸收缺陷檢測(cè)儀 | |
| 型號(hào) | PTM-2000-LA |
| 檢測(cè)靈敏度 | ≤10ppb |
| 檢測(cè)波長(zhǎng) | 355nm、532nm、1064nm或定制波長(zhǎng) |
| 空間分辨率 | ≤10um |
| 樣品尺寸 | ≤500mm x 500mm ( L x W )或客戶訂制 |
| 光學(xué)顯微成像系統(tǒng)分辨率（可選配） | ≤1um |
*注：可根據(jù)用戶需求提供同類特制儀器和相關(guān)測(cè)試的解決方案。
大口徑元件吸收缺陷檢測(cè)儀(PTM-2000-LA)，基于光熱掃描顯微成像技術(shù)，適用于各類大口徑固體表面及亞表面缺陷的檢測(cè)和分析，特別是各類大口徑光學(xué)薄膜、光學(xué)元器件表面及亞表面吸收缺陷的檢測(cè)和分析。本系統(tǒng)是一款非接觸式、高分辨率、全自動(dòng)化檢測(cè)儀器，可根據(jù)用戶具體需求進(jìn)行紫外、可見或紅外波段的精密檢測(cè)和分析。
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