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深紫外光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x品牌
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深紫外光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x(PTS-DUV-2000/PTB-DUV-2000)，是一款基于激光誘導(dǎo)光熱檢測(cè)技術(shù)，專為深紫外波段光學(xué)材料和元件吸收特性檢測(cè)分析而開發(fā)的高靈敏度精密光學(xué)測(cè)試儀器。
PTS-DUV-2000適用于各類深紫外波段光學(xué)薄膜和光學(xué)材料表面吸收特性的檢測(cè)和分析，包括表面吸收率測(cè)量、表面吸收均勻性分布測(cè)試、吸收缺陷檢測(cè)分析、激光輻照下的吸收穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)等。
PTB-DUV-2000適用于各類深紫外波段光學(xué)元器件及材料體內(nèi)吸收特性的檢測(cè)和分析，包括材料體吸收系數(shù)測(cè)量、體內(nèi)吸收均勻性分布測(cè)試、體吸收缺陷檢測(cè)分析等。
典型的應(yīng)用對(duì)象為:光學(xué)薄膜、光學(xué)玻璃、晶體材料、光學(xué)陶瓷、半導(dǎo)體晶圓。
| 深紫外光學(xué)吸收測(cè)量?jī)x | ||
| 型號(hào) | PTS-DUV-2000 | PTB-DUV-2000 |
| 檢測(cè)功能 | 表面吸收 | 表面吸收、體吸收 |
| 檢測(cè)模式 | 反射式、透射式 | 反射式、透射式 |
| **吸收檢測(cè)靈敏度 | ≤0.1ppm | |
| 檢測(cè)波長(zhǎng) | 266nm或其他深紫外定制波長(zhǎng) | |
| **掃描空間分辨率 | ≤1μm | |
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