參考價格
100-150萬元型號
AFM5500M品牌
日立產(chǎn)地
日本樣本
暫無分辨率:
·重現(xiàn)性:
·儀器原理:
圖像分析分散方式:
·測量時間:
·測量范圍:
直徑≤100mm,厚度≤20mm看了全自動型原子力顯微鏡的用戶又看了
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參考報價:
面議 | 型號: | AFM5500M | |
品牌: | 日立 | 產(chǎn)地: | 日本 |
樣本: | 【暫無】 | 信息完整度: | |
典型用戶: | 0 |
儀器種類: | 原子力顯微鏡 | 樣品臺移動范圍: | 100mm*100mm |
樣品尺寸: | 直徑≤100mm,厚度≤20mm | 定位檢測噪聲: | ≤ 0.04 nm (High-resolution mode) |
價格區(qū)間: | 產(chǎn)地類別: | 進口儀器 |
1. 自動化功能
高度集成自動化功能追求高效率檢測
降低檢測中的人為操作誤差
2. 可靠性
排除機械原因造成的誤差
大范圍水平掃描
采用管型掃描器的原子力顯微鏡,針對掃描器圓弧運動所產(chǎn)生的曲面,通常通過軟件校正方式獲得平面數(shù)據(jù)。但是,用軟件校正方式不能完全消除掃描器圓弧運動的影響,圖片上經(jīng)常發(fā)生扭曲效果。
AFM5500M搭載了**研發(fā)的水平掃描器,可實現(xiàn)不受圓弧運動影響的準(zhǔn)確測試。
高精角度測量
普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器,在豎直伸縮的時候,會發(fā)生彎曲(crosstalk)。這是圖像在水平方向產(chǎn)生形貌誤差的直接原因。
AFM5500M中搭載的全新掃描器,在豎直方向上不會發(fā)生彎曲(crosstalk) ,可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。
3. 融合性
親密融合其他檢測分析方式
通過SEM-AFM的共享坐標(biāo)樣品臺,可實現(xiàn)在同一視野快速的觀察分析樣品的表面形貌,結(jié)構(gòu),成分,物理特性等。
通過分析AFM圖像可以判斷,SEM對比度表征石墨烯層的厚薄。
石墨烯層數(shù)不同導(dǎo)致表面電位(功函數(shù))的反差。
SEM圖像對比度不同,可以通過SPM的高精度3D形貌測量和物理特性分析找到其原因。
與其他顯微鏡以及分析儀器聯(lián)用正在不斷開發(fā)中。
高度集成自動化功能追求高效率檢測
降低檢測中的人為操作誤差
排除機械原因造成的誤差
親密融合其他檢測分析方式