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儀器簡介：

NANONICS IMAGING LTD. （以色列NANONICS有限公司）是業(yè)界將近場光學(xué)顯微鏡(NSOM)技術(shù)和原子力顯微鏡(AFM)相技術(shù)相結(jié)合的領(lǐng)頭羊。公司成立于1997年，NANONICS是業(yè)界成立*久并且對此類系列產(chǎn)品經(jīng)驗*豐富的公司之一，其產(chǎn)品榮獲過許多國際大獎。在強大的NSOM/AFM的整合操作系統(tǒng)的推動下，今天NANONICS繼續(xù)以強大的優(yōu)勢和全面的系統(tǒng)領(lǐng)導(dǎo)著市場。NANONICS憑借著實力和品質(zhì)，其產(chǎn)品涉足的領(lǐng)域從科研到工業(yè)，從生物學(xué)到半導(dǎo)體，從化學(xué)制品到無線電通訊，應(yīng)用范圍極其廣泛。    

低溫NSOM/AFM擁有先進的系統(tǒng)設(shè)備、環(huán)境友好的樣品反應(yīng)室、化學(xué)藥品和氣體自動傳送系統(tǒng)；還有nano-印刷術(shù)系統(tǒng)，給消費者提供一個**的系統(tǒng)配置選擇。加上有AFM/NSOM/SEM的整合與AFM/NSOM/micro-Raman的整合系統(tǒng)這樣強大的成象結(jié)合，可以讓用戶擁有**的實驗平臺來完成所有的材料表征應(yīng)用。探針包括NSOM探針，micro-pipettes是檢測熱、電性能的，同時探針還可以提供氣體和液體加樣，這是Nanonics系列產(chǎn)品獨有的功能，可以為提供用戶在很小的范圍內(nèi)做原位反應(yīng)等。NAONICS系統(tǒng)兼容可所有供應(yīng)商提供的SPM探針。    

Nanonics儀器設(shè)計的特點就是將不同的表征手段整合到一個平臺，包括spm、微拉曼光譜、電鏡、共聚焦顯微鏡、離子束、熱分析、SHG等等都能實時或一起使用。For the first time ever, Nanonics Imaging Ltd. in its drive for integrated microscopic solutions has now been able to fully and transparently integrate these two worlds.

技術(shù)參數(shù)：

1、掃描方式：針尖掃描或樣品掃描，AC模式，接觸模式以及所有標準AFM模式

2、分辨率：
< 0.005 nm (Z方向)
< 0.015 nm (XY方向)
< 0.002 nm (XY方向) 低壓模式

3、掃描范圍: XY方向70um、Z方向70－120um，另外有30um和10um掃描器選配

4、掃描步進：70um掃描器＜1nm、10um掃描器＜0.1nm

5、掃描器厚度：7mm；重量：75克

6、**樣品尺寸：半徑16mm，另根據(jù)客戶需求可以選配任何合理尺寸；



********************************探針*******************************

**特點：所有的商業(yè)化的探針均適用于當(dāng)前的Nanonics NSOM操作

※NSOM探針
※AFM探針
※研究超低彈性模量的AFM探針
※專用于深溝的AFM探針
※中空的AFM探針
※玻璃絕緣的AFM傳感納米線
※雙線玻璃絕緣探針
※普通模式SPM探針


*******************************操作模式*****************************

※NSOM反射模式
※NSOM透射模式
※NSOM收集模式和收集暫時場模式
※NSOM熒光模式
※NSOM-PL模式
※三維共聚焦成像（透射、反射、熒光）
※非接觸式NSOM、液體（生物樣品）NSOM


************************Nanonics Analog控制器************************

※軟件包-NT,Win95/98,XP兼容；
※實時圖像顯示，圖像獲取（高達8通道）及分析，3D處理；
※LabVIEW軟件包擁有4通道的數(shù)據(jù)采集功能；

主要特點：

*******************************應(yīng)用范圍寬****************************

1、表面和材料科學(xué)
微納米結(jié)構(gòu)表征、粗糙度、摩擦力、高度分布、自相關(guān)評估、軟性材料的彈性和硬度測試

2、生物應(yīng)用
液體中完整活細胞成像、細胞膜孔隙率和結(jié)構(gòu)表征

3、薄膜表征
孔隙率分析、覆蓋率、附著力、磨損特性、納米顆粒、島嶼分布

4、硬盤檢查
表面檢查和缺陷鑒定、磁疇成像、摩擦力和磨損方式和讀寫頭表征

5、半導(dǎo)體制造中的測試
高分辨率地定量結(jié)構(gòu)分析以及摻雜濃度的分布等各種材料特征

6、失效分析
缺陷識別、電性測量和鍵合電極大摩擦特性等


********************************測試獨特****************************

1、測試環(huán)境控制NSOM，至液氦溫區(qū)和超高真空度

2、環(huán)境控制操作與光學(xué)顯微鏡、微拉曼等完全兼容

3、獨有的電學(xué)及熱學(xué)測量