推薦科學家發(fā)明無干擾測量納米材料張力新方法

德國和西班牙兩國科研小組合作，利用紅外線納米近場顯微鏡發(fā)明了一種無干擾檢測納米半導體材料張力的新方法，這一新方法為科學家研究半導體材料的物理性能，以及測量納米級半導體元器件的性能提供了新的可能。 [更多]