推薦牛津儀器、日立等國際知名儀器品牌亮相“首屆納博會分析測試應用研討會”

中國粉體網(wǎng)訊 半導體和新材料方面的檢測處于檢測分析行業(yè)金字塔的最頂端。隨著國內(nèi)半導體與材料技術(shù)和科學的發(fā)展，對雜質(zhì)和缺陷的分析檢測方法在準確性和精度方面的要求越來越高。檢測的內(nèi)容也發(fā)生了變化，從材料缺陷宏觀觀察和電學性質(zhì)的宏[更多]