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德國新帕泰克（SYMPATEC）公司
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干法粒度儀
HELOS-GRADIS
GRADIS分散系統(tǒng)適用于那些不需要太高分散能量的樣品比如晶體、沙粒、小粒等。下落柱可以對樣品提供均勻的分散效果并控制以保持顆粒在通過激光束的時候保持速度一致。它既可用于激光粒度儀主機(jī)HELOS，又可用于圖像分析儀主機(jī)QICPIC。
測試原理：
利用光的衍射現(xiàn)象，即大顆粒產(chǎn)生的衍射角小，小顆粒產(chǎn)生的衍射角大，通過計算探測器上收集到的不同衍射圖形的光強(qiáng)分布，來給出顆粒的粒度大小和粒度分布。
檢測粒度范圍：
0.5- 8750 微米 （可根據(jù)實際應(yīng)用范圍配置量程）
測試結(jié)果精度：
準(zhǔn)確度 | σ ± 1 % 與**值的平均相對標(biāo)準(zhǔn)偏差(x10…x90) |
測試重復(fù)性 | σ < 0.3 % 多次取樣重復(fù)性誤差 |
儀器可比性 | σ < 1 % 中位徑的平均相對標(biāo)準(zhǔn)偏差 (x50) |
|Δx50| < 2.5 % **相對偏差 |
功能及特點(diǎn)：
1. 如需要，樣品可以在測試之后回收再利用
2. 可對非常粗的顆粒進(jìn)行檢測，而每次的樣品量可以達(dá)到公斤級
3. 下落柱的出口狹縫的寬度2 mm, 4 mm 或者 10 mm可手動選擇，以適配樣品應(yīng)用
4. 在一些特殊的應(yīng)用中，可對下落柱進(jìn)行導(dǎo)電或者非導(dǎo)電的PTFE鍍膜處理
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