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麥克顆粒表征與技術系列專題研討會圓滿結束

麥克顆粒表征與技術系列專題研討會圓滿結束
美國麥克儀器  2011-08-01  |  閱讀:2293

          2011年7月19日-7月25日,麥克顆粒表征與技術系列專題研討會分別在中山大學、武漢理工大學、南京大學、浙江大學隆重召開。此次系列研討會吸引眾多學校以及研究所教授約200位專家學者參與了此次大會.

 

 
     研討會主題為物理吸附與化學吸附的理論與實踐,麥克儀器資深專家Jeff Kenvin博士與Jacek Jagiello博士,報告了物理吸附與化學吸附基本理論,并與實踐經(jīng)驗相結合,引起與會專家學者和業(yè)內(nèi)同仁們熱烈的反響和討論。

 

        此次研討會為顆粒表征與技術工作者提供了一次寶貴的學習、交流平臺,取得了良好的效果,與會代表紛紛示這次研討會對他們的工作幫助很大,希望以后能夠繼續(xù)參加類似的活動。
更多產(chǎn)品請登陸麥克官網(wǎng):;美國總部網(wǎng)站:
麥克熱線:400-630-2202

 

        
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