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麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司

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美國麥克儀器公司將在國家納米中心舉辦技術(shù)講座

美國麥克儀器公司將在國家納米中心舉辦技術(shù)講座
美國麥克儀器  2015-04-08  |  閱讀:1377

粒度與穩(wěn)定性是決定膠體性質(zhì)的兩個參數(shù),膠體的穩(wěn)定性又與Zeta電位密切相關(guān),在研究和生產(chǎn)過程中,我們需要測定Zeta電位來確定膠體的分散情況從而確定產(chǎn)品的性能。納米粒度與Zeta電位儀是利用光子相關(guān)光譜法和電泳光散射技術(shù)測量粒度、Zeta電位和分子量的儀器,可廣泛應用于涂料、飲料乳劑、化妝品、紡織品、微電子工業(yè)、制藥行業(yè)等多個領(lǐng)域。

作為材料表征權(quán)威公司,我們一直致力于研發(fā)材料表征的最新方法與技術(shù),為廣大用戶提供更精確、更廣泛應用的測試技術(shù)。為了和大家分享我們最新的研究成果,美國麥克儀器公司定于420日在國家納米科學中心舉辦題為“納米亞微米顆粒表征技術(shù)簡介:動態(tài)光散射(DLS)與電泳光散射(ELS”的技術(shù)講座,我們誠邀您前來共同探討、交流本行業(yè)的國際最新發(fā)展趨勢。


研討會時間:42013:30

地點: 國家納米科學中心科研樓三樓會議室

地址:北京市海淀區(qū)中關(guān)村北一條11

主講人:麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司總經(jīng)理許人良博士

會務聯(lián)系人:郭銳

聯(lián)系電話:021-51085884-807

技術(shù)講座基本內(nèi)容:

?    納米顆粒表征綜述

?    光子相關(guān)光譜PCS技術(shù)最新研究進展

?    全新的Zeta電位測樣技術(shù)

—如何測量濃溶液的Zeta電位?

—如何測量平整固體表面或薄膜的液固界面Zeta電位?

?    粒度與Zeta電位的應用領(lǐng)域

 

主講嘉賓簡介:

     許人良博士現(xiàn)任麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司總經(jīng)理,從事顆粒特性研究和檢測技術(shù)30多年,是該領(lǐng)域國際資深著名專家。他于1980年代在美國獲得博士學位,并在2002年在美國獲得MBA學位。

      

他已發(fā)表了基礎(chǔ)理論研究和應用領(lǐng)域的科技文章100余篇;獲得3項美國專利;研究成果在科學檢索引用超過3000多次;在美國各大學和世界各地進行過學術(shù)講座100多次;并著有顆粒表征中的權(quán)威著作《Particle Characterization: Light Scattering Methods》。現(xiàn)在擔任眾多專業(yè)期刊的評委;ISO, ASTM, IAB of PERC的委員會成員;為多項國際標準的起草者;被列為美國和世界名人榜。許人良博士經(jīng)常活躍在中國國內(nèi)學術(shù)領(lǐng)域,在多所大學進行科技講座?,F(xiàn)任上海華東理工大學兼職教授,上海師范大學兼職教授,沈陽科學技術(shù)學會特邀外國專家,與國際粉體監(jiān)測與控制聯(lián)合會理事。

 


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