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許多微孔材料(例如分子篩,活性炭等。)在進(jìn)行自由空間測(cè)量時(shí),由于暴露在He 氣中幾個(gè)小時(shí),會(huì)將He 捕捉并保存在它們復(fù)雜的孔結(jié)構(gòu)中,最終影響到分析低壓區(qū)數(shù)據(jù),在低壓區(qū)出現(xiàn)S 型曲線。本文針對(duì)這種情況,給出了相應(yīng)的解決方案,不僅羅列出相應(yīng)的注意事項(xiàng)和需要采用的工具,還詳細(xì)的描述了測(cè)試文件如何編輯和選擇,并進(jìn)行了舉例說明。
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