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激光粒度儀-美國麥奇克儀器有限公司
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產(chǎn)品詳情
納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II
納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的圖片
參考報(bào)價(jià):
20-30萬元
品牌:
Microtrac MRB/麥奇克
關(guān)注度:
29523
樣本:
暫無
型號(hào):
Nanotrac wave II
產(chǎn)地:
美國/德國
信息完整度:
典型用戶:
暫無
重現(xiàn)性:
誤差≤1%
儀器原理:
動(dòng)態(tài)光散射
測量時(shí)間:
30-120秒
測量范圍:
0.3nm-10μm
索取資料及報(bào)價(jià)
認(rèn)證信息
高級(jí)會(huì)員 第 10
名 稱:激光粒度儀-美國麥奇克儀器有限公司
認(rèn) 證:工商信息已核實(shí)
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產(chǎn)品分類
公司品牌
品牌傳達(dá)企業(yè)理念
產(chǎn)品簡介

納米粒度測量——先進(jìn)的動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)

Zeta電位測量:Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨(dú)到見解,經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究,開發(fā)出新一代NANOTRAC WAVE II微電場分析技術(shù),融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體,無需傳統(tǒng)的比色皿,一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比,NANOTRAC WAVE II采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計(jì),配置膜電極產(chǎn)生微電場,操作簡單,測量迅速,無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層,無需外加大功率電場,無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,完全消除由于空間位阻(不同光學(xué)元器件間的傳輸損失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差異,分散介質(zhì)的影響,顆粒間多重散射等)帶來的光學(xué)信號(hào)的損失,結(jié)果準(zhǔn)確可靠,重現(xiàn)性好。


測量原理:

粒度測量:動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理

Zeta電位測量:膜電極設(shè)計(jì)與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率

分子量測量:水力直徑或德拜曲線


光學(xué)系統(tǒng):

3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器,通過梯度步進(jìn)光纖直接照射樣品,在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號(hào),無需校正光路


軟件系統(tǒng):

先進(jìn)的FLEX軟件提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力,包括圖形,數(shù)據(jù)輸出/輸入,個(gè)性化輸出報(bào)告,及各種文字處理功能,如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù),Microsoft Access格式(OLE)等。體積,數(shù)量,面積及光強(qiáng)分布,包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,包括口令保護(hù),電子簽名和指定授權(quán)等。


外部環(huán)境:

電源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz

環(huán)境要求:溫度,10-35°C

國際標(biāo)準(zhǔn):符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008


主要特點(diǎn):

? 采用先進(jìn)的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù),引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法

? “Y”型光纖光路系統(tǒng),通過藍(lán)寶石測量窗口,直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,在加載電流的情況下,與膜電極對(duì)應(yīng)產(chǎn)生微電場,測量同一體系的Zeta電位, 避免樣品交叉污染與濃度變化。

? 異相多譜勒頻移技術(shù),較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號(hào)強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí),提高分析結(jié)果的可靠性。

? 可控參比方法(CRM),能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,確保分析的靈敏度。

? 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì),減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性。

? 快速傅利葉變換算法(FFT,F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時(shí)間。

? 膜電極設(shè)計(jì),避免產(chǎn)生熱效應(yīng),能準(zhǔn)確測量顆粒電泳速度。

? 無需比色皿,毛細(xì)管電泳池或外加電極池,僅需點(diǎn)擊Zeta電位操作鍵,一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果

? 消除多種空間位阻對(duì)散射光信號(hào)的干擾,諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質(zhì)的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。

產(chǎn)品參數(shù)
粒度分析范圍0.3nm-10μm
重現(xiàn)性誤差≤1%
濃度范圍100ppb-40%w/v
檢測角度180°
分析時(shí)間30-120秒
準(zhǔn)確性全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子
測量精度無需預(yù)選,依據(jù)實(shí)際測量結(jié)果,自動(dòng)生成單峰/多峰分布結(jié)果
理論設(shè)計(jì)溫度0-90℃,可以進(jìn)行程序升溫或降溫
兼容性水相和有機(jī)相


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