国产在线 | 日韩,疯狂做受xxxx高潮不断,影音先锋女人aa鲁色资源,欧美丰满熟妇xxxx性大屁股

手機(jī)版

掃一掃,手機(jī)訪問

關(guān)于我們 加入收藏

復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

5 年金牌會員

已認(rèn)證

撥打電話
獲取底價
提交后,商家將派代表為您專人服務(wù)
立即發(fā)送
點擊提交代表您同意 《用戶服務(wù)協(xié)議》
當(dāng)前位置:
復(fù)納科技 >技術(shù)文章 >

掃描電鏡在什么情況下需要搭配離子研磨儀?

掃描電鏡在什么情況下需要搭配離子研磨儀?
復(fù)納科技  2020-12-22  |  閱讀:2435

如果你沒有從掃描電鏡圖片中獲得你想要的信息,在掃描電鏡功能一切正常的前提下,極有可能是樣品制備不夠成功導(dǎo)致的。

以下兩個案例將直觀地說明這個問題:

1. 錫球焊接分析

未使用 Technoorg Linda 離子研磨儀制樣(飛納臺式電鏡拍攝)

使用 Technoorg Linda 離子研磨儀制樣(飛納臺式電鏡拍攝)

說明:如果不使用離子研磨儀,就無法用掃描電鏡觀察到錫球焊接處的缺陷

2. 陶瓷

未使用 Technoorg Linda 離子研磨儀制樣(飛納臺式電鏡拍攝)

使用 Technoorg Linda 離子研磨儀制樣(飛納臺式電鏡拍攝)

說明:如果不使用離子研磨儀,就無法用掃描電鏡觀察到陶瓷晶粒和富集相的正確位置

因此,使用離子研磨儀后,將有助于得到材料表面更豐富更準(zhǔn)確的形貌信息。對于一般的內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀察,使用傳統(tǒng)的機(jī)械研磨即可以達(dá)到需要的分析效果,但是對于某些精度要求較高或是機(jī)械研磨外部應(yīng)力會產(chǎn)生影響的情況下,使用高精度、無應(yīng)力的、無接觸式的研磨——離子研磨就很有必要。電子行業(yè)通常要求精度較高的結(jié)構(gòu)分析,例如細(xì)微失效缺陷分析;或是對處理應(yīng)力有較高要求的缺陷分析,例如樹脂與玻纖布的結(jié)合,銅箔厚度的仲裁測量等;這類情況下傳統(tǒng)的機(jī)械研磨就無法再達(dá)到預(yù)期的觀察效果。

什么是機(jī)械研磨?

機(jī)械研磨作為最常用的粗樣制備手段,通常的機(jī)械研磨和拋光會在表面上形成 1 nm 至 100 nm 厚度的非晶層,稱為 Beilby 層。Beilby 層會掩蓋住大部分的樣品真實信息,對掃描電鏡表征產(chǎn)生很大的影響。特別對于常見的金剛石拋光技術(shù),因為它會使表面的晶粒變形,從而影響表征結(jié)果(例如金相樣品)。離子研磨技術(shù)則克服了上述所有困難,從而提供了高分辨率表征所需的表面光潔度。

什么是離子研磨?

離子研磨實現(xiàn)的過程中,首先通過一個高壓電極來對氬氣進(jìn)行電離,從而形成氬離子;繼而再通過一個高壓電場來對氬離子實施加速,經(jīng)過帶有偏轉(zhuǎn)電場的離子槍頭,使其形成離子束對需要研磨的樣品進(jìn)行轟擊,將樣品表面物質(zhì)以原子的形態(tài)清除出去,以使得樣品達(dá)到無應(yīng)力研磨的效果。如圖 1 所示。在整個過程中會調(diào)整一些參數(shù),例如離子能量,離子束入射角,以優(yōu)化樣品制備時間和表面質(zhì)量。

離子研磨原理

荷蘭飛納臺式場發(fā)射掃描電鏡能譜一體機(jī)攜手匈牙利 Technoorg Linda 離子研磨儀,助您輕松高效地研究隱藏在表象下豐富準(zhǔn)確的材料表面形貌成分信息,為用戶帶來最高的性價比體驗。

Technoorg Linda 全自動離子研磨儀 SEMPrep2 最多可配備兩支離子槍。高能量離子槍進(jìn)行快速切削,低能量離子槍用于表面的精細(xì)拋光和清潔,制備適用于制備高品質(zhì)的無損傷樣品??蛇x配更強(qiáng)大的 16 keV 超高能量離子槍用于超硬材料和更快速切削樣本??蛇x配液氮或 Peltier 冷卻臺,保護(hù)對熱敏感的樣品。該設(shè)備具備的氣鎖系統(tǒng),有利于大通量樣本 快速交換,顯著縮短換樣時間。完全自動化的操作系統(tǒng),可編程,保存和再現(xiàn)制樣參數(shù),避免不同操作者的造成的人為差異。

Phenom Pharos 飛納臺式場發(fā)射掃描電鏡能譜一體機(jī)采用肖特基場發(fā)射電子源,集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發(fā)射電子源,使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像。圖形化操作界面,15 秒抽真空,30秒成像,放置環(huán)境無特殊要求,內(nèi)置磁屏蔽系統(tǒng),完全防震。Phenom Pharos 低電壓成像優(yōu)勢明顯,可減輕電子束對樣品的損傷和穿透,最大程度還原樣品真實形貌,最高放大倍數(shù) 1,000,000X,分辨率優(yōu)于 2.2nm。

案例研究一:鋰電池負(fù)極材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)

為了研究不同循環(huán)次數(shù)與充電速率下鋰電池負(fù)極石墨顆粒內(nèi)裂紋的形成,需要對顆粒截面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行研究。鋰電池材質(zhì)較軟,機(jī)械拋光或切割會破壞顆粒,因此需要離子研磨進(jìn)行樣品制備以準(zhǔn)確分析材料的微觀結(jié)構(gòu)。

鋰電池負(fù)極石墨顆?!词褂?Technoorg Linda 離子研磨儀制樣(飛納臺式電鏡拍攝)

鋰電池負(fù)極石墨顆?!褂?Technoorg Linda 離子研磨儀切開負(fù)極材料粉末顆粒(飛納臺式電鏡拍攝)

案例研究二:鋁合金夾雜物

Technoorg Linda 離子研磨儀處理鋁合金表面后,使用飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī),即刻就能分析鋁合金材料表面的形貌和成分。夾雜是鑄造鋁合金中普遍存在的問題,夾雜物的檢測對于鑄件的質(zhì)量控制非常重要。

相關(guān)產(chǎn)品

更多

AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)

型號:AFM-in-Phenom XL

面議
Phenom MAPS 大面積圖像拼接

型號:Phenom MAPS

面議
ChemiSEM 彩色成像

型號:ChemiSEM

面議
飛納電鏡全景拼圖【新品】

型號:Automated Image Mapping

面議

虛擬號將在 秒后失效

使用微信掃碼撥號

為了保證隱私安全,平臺已啟用虛擬電話,請放心撥打(暫不支持短信)
留言咨詢
(我們會第一時間聯(lián)系您)
關(guān)閉
留言類型:
     
*姓名:
*電話:
*單位:
Email:
*留言內(nèi)容:
(請留下您的聯(lián)系方式,以便工作人員及時與您聯(lián)系?。?/div>