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大塚電子(蘇州)有限公司
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產(chǎn)品詳情
相位差膜?光學(xué)材料檢查設(shè)備 RETS-100
相位差膜?光學(xué)材料檢查設(shè)備 RETS-100的圖片
參考報價:
面議
品牌:
大塚電子
關(guān)注度:
2521
樣本:
暫無
型號:
RETS-100
產(chǎn)地:
江蘇
信息完整度:
典型用戶:
暫無
索取資料及報價
產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品信息

特 點

? 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器
? 有可對應(yīng)各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板
? 安全對策和粒子對策,可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備

測量項目

? 封入cell gap
? twist角 *
? rubbing角 *
? pretilt角[TN,IPS,FFS,MVA] *
? 空cell gap *
? 相位差(復(fù)折射相位差)的波長分散 *
? 光學(xué)軸 *
? 橢圓率/方位角 *
? 三次元折射率/Rth/β *
? 分光光譜/色度 *

測量對象

? 液晶cell
 - 透過、半透過型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應(yīng)電)
 - 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA)
? 光學(xué)材料
 - 其他(相位差?橢圓?偏光膜、液晶材料)

仕 樣

型號

RETS series

樣品尺寸

20mm×20mm ~ * 

cell gap測量范圍

0.1μm ~ 數(shù)10μm

cell gap重復(fù)性

±0.005μm

檢出器

多通道分光光度計

測量波長范圍

400nm ~ 800nm

光學(xué)系
     透過用偏光子unit

偏光光學(xué)系
     消光比 10-5內(nèi)置Gran-tomson prism(方解石)
     自動旋轉(zhuǎn)(角度精度0.1°)、自動裝卸機構(gòu)

測量口徑

φ2, φ5, φ10 (mm)

光軸傾斜機構(gòu)

-20 ~ 45°、-45 ~ 45°等

 * 大型玻璃基板也可用(2000mm×2000mm以上)

測量案例

相位差與液晶層間隙值

item_0008retsseries_sub001.jpg

液晶面內(nèi)分布圖

item_0008retsseries_sub002.jpg


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