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SuperSEM配套了專業(yè)的數(shù)據(jù)分析軟件，具備直觀的用戶界面，使得用戶能夠快速上手并獲取高質(zhì)量的掃描電子顯微鏡圖像。軟件支持自動(dòng)聚焦和快速掃描，以及結(jié)合了視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品元素分布的功能，不僅簡(jiǎn)化了操作流程，更確保了圖像采集與分析的精確性和高效性。適用于金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)等材料分析，是科研和工業(yè)檢測(cè)的得力助手。

使用優(yōu)勢(shì)

實(shí)時(shí)成分信息

與傳統(tǒng)的掃描電鏡不同，本儀器將EDS作為一種探測(cè)器一起集成在電鏡上，**開發(fā)BSE視頻數(shù)據(jù)和EDS能譜數(shù)據(jù)同步處理的算法，可掃描獲取多種信號(hào)同時(shí)執(zhí)行元素分析，實(shí)時(shí)檢測(cè)形貌與各種元素含量信息。

一鍵式操作

軟件界面友好，操作簡(jiǎn)單，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌，無(wú)需經(jīng)常做電子束合軸，可一鍵自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)消像散、大圖拼接等工作。使得新手用戶也能快速上手。

掃描速度快

具信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無(wú)重影、拖影，不錯(cuò)過每一個(gè)細(xì)節(jié)。

實(shí)時(shí)譜圖對(duì)比

無(wú)需等到采集完成，即可實(shí)時(shí)顯示定量結(jié)果，即使在采集過程中也可以和先前的譜圖進(jìn)行對(duì)比。

實(shí)時(shí)能譜偽彩成像

通過能譜（EDS）實(shí)時(shí)收集并分析樣品特征X射線，將其轉(zhuǎn)化為偽彩色圖像，直觀展示元素分布與含量的高級(jí)成像技術(shù)。

背散射電子探測(cè)器

采用高感度四分割背散射電子探測(cè)器，獨(dú)立成像并任意合成信號(hào)，可給出豐富的成份信息，環(huán)境適應(yīng)性良好。

信號(hào)多樣

配備二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、集成式能譜儀等多種探測(cè)器。

成像快速

配備的紅外CCD，支持快速找樣，樣品艙實(shí)時(shí)觀察，大大提高了尋找和定位樣品的速度。

體積小巧

無(wú)需特裝設(shè)備間和額外減震臺(tái)，常規(guī)市電即插即用。