探測(cè)器：
BSD, SED (可選), EDS (可選)加速電壓：
4.8kV-20.5kV連續(xù)可調(diào)電子槍：
CeB6電子光學(xué)放大：
200,000光學(xué)放大：
3-16X分辨率：
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分析測(cè)定鋼中非金屬夾雜物的是一項(xiàng)復(fù)雜的工作，它既需要對(duì)鋼樣中存在的大量夾雜物進(jìn)行定量分析，測(cè)量其尺寸、形貌等，又需要測(cè)定它們的化學(xué)組成和分布、以及變化趨勢(shì)等。
目前，常用的夾雜物分析方法（如金相法、化學(xué)分析法、掃描電鏡、電解方法等）都只是從某一個(gè)側(cè)面反映了鋼中非金屬夾雜物的屬性，但這些方法不但依靠手工操作費(fèi)時(shí)費(fèi)力，不具備統(tǒng)計(jì)意義，而且所檢測(cè)的數(shù)據(jù)不全面，不能為生產(chǎn)部門(mén)提供所需的夾雜物信息。
在各種鋼鐵夾雜物分析技術(shù)中，目前國(guó)內(nèi)外公認(rèn)的較準(zhǔn)確和可靠的方法是由前美國(guó) FEI 公司生產(chǎn)的 Aspex 系列產(chǎn)品。因其獨(dú)有的全自動(dòng)集成一體化的快速夾雜物分析和報(bào)告功能在全球鋼鐵行業(yè)得到了廣泛認(rèn)可，并且已有大量文獻(xiàn)報(bào)道該技術(shù)在鋼鐵生產(chǎn)中應(yīng)用的各種成功案例。
ParticleX Steel全自動(dòng)鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)
2017 年，ASPEX 進(jìn)行了硬件大升級(jí)：由鎢燈絲升級(jí)為超長(zhǎng)壽命的 CeB6 晶體燈絲，極大降低了操作人員更換燈絲的頻率；真空系統(tǒng)升級(jí)為三倉(cāng)分離的設(shè)計(jì)，抽真空只需 30 秒；控制系統(tǒng)升級(jí)為高精度自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)，移動(dòng)更迅速準(zhǔn)確。2019 年升級(jí)為雙系統(tǒng)的 ParticleX Steel全自動(dòng)鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)，除了全自動(dòng)夾雜物分析，還可以作為常規(guī)電鏡進(jìn)行手動(dòng)分析，大大提升了用戶的操作體驗(yàn)。
全自動(dòng)鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)特點(diǎn)：
01以臺(tái)式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎(chǔ)
02 多項(xiàng)設(shè)計(jì)，保證高通量快速運(yùn)行
03 靈活定制自動(dòng)分析流程
04標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)流程，提升產(chǎn)品穩(wěn)定性
全自動(dòng)鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)功能：
01自動(dòng)夾雜物識(shí)別
02自動(dòng)高清圖像采集
03 自動(dòng)能譜成分分析
04自動(dòng)夾雜物分類
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
今年 11 月 2 日起，每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn)，包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車(chē)、未載客的出租車(chē)等通行。因?yàn)樾履茉雌?chē)車(chē)牌較容易獲得，不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車(chē)，因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代，生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此，潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì)，而控制
2020-12-21
2020-12-21
"中國(guó)材料大會(huì) 2025 暨新材料科研儀器與設(shè)備展"是中國(guó)新材料領(lǐng)域的國(guó)家級(jí)品牌大會(huì)，是推動(dòng)中國(guó)新材料發(fā)展的前沿學(xué)術(shù)交流的超萬(wàn)人學(xué)術(shù)盛會(huì)，近百位院士出席，國(guó)內(nèi)外材料大家、企業(yè)大咖、
2025 年 6 月 19 - 20 日，飛納電鏡線下用戶培訓(xùn)會(huì)在著名古城武漢成功舉辦。本次培訓(xùn)會(huì)吸引了來(lái)自高校、科研機(jī)構(gòu)和企業(yè)的用戶參與，為大家提供了一個(gè)深入學(xué)習(xí)飛納電鏡操作與應(yīng)用的絕佳平臺(tái)。培訓(xùn)會(huì)
在科技飛速發(fā)展的今天，氣體傳感器的開(kāi)發(fā)對(duì)于環(huán)境監(jiān)測(cè)、工業(yè)安全以及健康醫(yī)療等領(lǐng)域具有至關(guān)重要的意義。近期，VSParticle與Materials Center Leoben Forschung Gmb
掃描電鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）作為半導(dǎo)體行業(yè)中不可或缺的高精度檢測(cè)工具，憑借其納米級(jí)分辨率和強(qiáng)大的表征能力，已廣泛應(yīng)用于芯片制造、材料開(kāi)發(fā)、失效分析、工
掃描電子顯微鏡樣品制備全攻略：從原理到實(shí)踐掃描電子顯微鏡（SEM）是研究材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)等領(lǐng)域。經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的發(fā)展，現(xiàn)代掃描電鏡不僅具備高分辨率形貌
用戶案例｜讀懂火山噴發(fā)前的“化學(xué)倒計(jì)時(shí)”，Neoscan 顯微CT助力巖漿同化機(jī)制研究！在地質(zhì)研究中，“時(shí)間”是一項(xiàng)最難精確捕捉的變量。尤其是在火山噴發(fā)這樣的突發(fā)性地質(zhì)事件中，巖漿從深部穿越地殼、與圍
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