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組合式熒光光譜測量系統(tǒng)-OmniPL系列
| 光 致發(fā)光（photoluminescence）即PL，是用紫外、可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光。PL 熒光測量系統(tǒng)通常是用較強(qiáng)的單色光（如激光器等）激發(fā)樣品/ 材料（如GaN/ZnO 等）產(chǎn)生熒光，通過對其熒光光譜的測量，分析該材料的光學(xué)特性。典型應(yīng)用于LED 發(fā)光材料、半導(dǎo)體材料的研究。 OmniPL 系列穩(wěn)態(tài)熒光光譜測量系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計，在滿足PL 光譜測量的同時，用戶可以根據(jù)不同的實驗需求，選擇不同的配件，靈活的進(jìn)行系統(tǒng)功能的擴(kuò)展。 |
系統(tǒng)組成：激發(fā)光源+ 樣品室＋熒光光譜儀＋數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)＋軟件＋計算機(jī)
OmniPL-LF325型穩(wěn)態(tài)光致發(fā)光光譜系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)
| ● 激發(fā)光源：HeCd激光器 ● 激發(fā)光功率： 20mW ● 激發(fā)波長：325nm ● 瑞利散射截止濾光片，OD>6 ● 熒光光譜儀光譜范圍：300-850nm（可擴(kuò)展至2500nm） ● 熒光光譜分辨率：優(yōu)于0.2nm（@1200g/mm光柵） ● 波長準(zhǔn)確度：±0.2nm ● 波長重復(fù)性：±0.1nm ● 光探測器：科研級制冷型背感光CCD，300-1000nm ● 可選配閉循環(huán)超低溫制冷機(jī)，*低溫度可達(dá)2K ● 系統(tǒng)擴(kuò)展性：系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計，可擴(kuò)展至近紅外波段光譜測量 ● 軟件提供靈活的實驗運行步驟自定義功能，可隨時儲存和提取圖譜，并能夠進(jìn)行復(fù)雜的光譜處理及光譜數(shù)據(jù)間的四則運算系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖PL圖譜 |
暫無數(shù)據(jù)！
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