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光致熒光光譜測量是半導(dǎo)體材料特性表征的一個(gè)被普遍認(rèn)可的重要測量手段。MiniPL為模塊化設(shè)計(jì)、計(jì)算機(jī)自動控制的高靈敏度、寬帶隙小型PL（光致熒光）光譜儀；MiniPL采用Photon Systems公司自行研發(fā)的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作為激發(fā)光源，配合獨(dú)特的光路設(shè)計(jì)，采用高靈敏度PMT作為探測器件，并通過儀器內(nèi)置的門閘積分平均器（Boxcar）進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，實(shí)現(xiàn)微弱脈沖信號的檢測。MiniPL可被用表征半導(dǎo)體材料摻雜水平分析、合成組分分析、帶隙分析等，不僅可用于科研領(lǐng)用，更可用在半導(dǎo)體LED產(chǎn)業(yè)中的品質(zhì)檢測。

技術(shù)參數(shù)：

主要規(guī)格特點(diǎn)：

■ 采用5.5(224nm)或5.0 eV(248.6nm)深紫外激光器

■ 室溫PL光譜測量范圍：190~650nm（標(biāo)準(zhǔn)），190~850nm（選配）

■ 高分辨率：0.2nm（@1200g/mm光柵，標(biāo)配），

0.07nm（@3600g/mm光柵，選配）

■ 門閘積分平均器（Boxcar）進(jìn)行微弱脈沖信號的檢測

■ 可實(shí)現(xiàn)量子效率測量

■ 基于LabView的界面控制

■ 光譜分析軟件可獲得光譜帶寬、峰值波長、峰值副瓣鑒別、光譜數(shù)據(jù)運(yùn)算、歸一化等

■ **可測量50mm直徑樣品，樣品可實(shí)現(xiàn)XYZ三維手動調(diào)整（標(biāo)準(zhǔn)）

■ 可選配自動樣品掃描裝置，實(shí)現(xiàn)Mapping功能

■ 可用于紫外拉曼光譜測量

■ 高度集成化，體積：15 ×18 × 36cm，重量：<8kg

主要特點(diǎn)：

光致熒光光譜測量是半導(dǎo)體材料特性表征的一個(gè)被普遍認(rèn)可的重要測量手段。MiniPL為模塊化設(shè)計(jì)、計(jì)算機(jī)自動控制的高靈敏度、寬帶隙小型PL（光致熒光）光譜儀；MiniPL采用Photon Systems公司自行研發(fā)的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作為激發(fā)光源，配合獨(dú)特的光路設(shè)計(jì)，采用高靈敏度PMT作為探測器件，并通過儀器內(nèi)置的門閘積分平均器（Boxcar）進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，實(shí)現(xiàn)微弱脈沖信號的檢測。MiniPL可被用表征半導(dǎo)體材料摻雜水平分析、合成組分分析、帶隙分析等，不僅可用于科研領(lǐng)用，更可用在半導(dǎo)體LED產(chǎn)業(yè)中的品質(zhì)檢測。