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TESCAN CLARA 是一款適用性非常廣泛的掃描電子顯微鏡，能夠滿(mǎn)足各個(gè)科研和技術(shù)領(lǐng)域?qū)Σ煌牧线M(jìn)行高質(zhì)量成像和表征的需求。TESCAN CLARA 使用了 TESCAN BrightBeam™ 型 SEM 鏡筒，該鏡筒配置了可變比例式靜電-電磁復(fù)合物鏡，可以在低加速電壓下實(shí)現(xiàn)無(wú)漏磁超高分辨成像，這對(duì)于包括磁性樣品在內(nèi)的各類(lèi)樣品具有廣泛的適用能力。

主要特點(diǎn)：

• 新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù)，保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測(cè)能力

• **配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡，物鏡無(wú)磁場(chǎng)外泄，實(shí)現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析

• 配置4個(gè)新一代探測(cè)器，可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀測(cè)，對(duì)樣品信息的采集更加全面

• 配置大型樣品室，有超過(guò)20個(gè)擴(kuò)展接口，為原位觀測(cè)、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境

• 可以配置 TESCAN 自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL 以及實(shí)現(xiàn)與Raman聯(lián)用

• 模塊化 Essence™ 軟件，直觀易用，不同技術(shù)水平的用戶(hù)，均可輕松操作。

獨(dú)特的探測(cè)器系統(tǒng)

獨(dú)特的鏡筒內(nèi)探測(cè)器系統(tǒng)，可以根據(jù)能量和角度的不同選擇信號(hào)進(jìn)行采集，獲得*全面的形貌和成分信息。Multidetector 探測(cè)器配有能量過(guò)濾器，可以實(shí)現(xiàn)二次電子信號(hào)和背散射電子信號(hào)的過(guò)濾以便增強(qiáng)材料襯度以及提高表面靈敏度，并能夠?qū)崿F(xiàn)二次電子和背散射電子信號(hào)之間的實(shí)時(shí)切換。第二個(gè)鏡筒內(nèi)探測(cè)器 — 軸向探測(cè)器（Axial detector），能以高效率在任何著陸電壓下收集二次電子和背散射電子信號(hào)，且不會(huì)有明顯的信號(hào)損失，這樣即使在低著陸電壓下也能夠非常簡(jiǎn)單的進(jìn)行超高分辨二次電子成像。

TESCAN CLARA 使用了實(shí)時(shí)電子束追蹤技術(shù)(In Flight Beam Tracing™)和中間鏡技術(shù)(Intermediate Lens™)，可以廣泛適用于各類(lèi)分析研究。TESCAN CLARA 能夠在高束流下（**可達(dá)400 nA）仍然保持高分辨成像，這點(diǎn)對(duì)于日常分析工作而言非常便利。TESCAN CLARA 是一款真正的多功能分析儀器，適用于納米材料的表征，高端制造業(yè)的嚴(yán)格質(zhì)控，以及各類(lèi)研發(fā)工作。

軟件：

·測(cè)量軟件， 公差測(cè)量軟件

·圖像處理

·預(yù)設(shè)參數(shù)

·直方圖及LUT

·SharkSEM™ 基礎(chǔ)版 (遠(yuǎn)程控制)

·3D 防碰撞模型軟件

·對(duì)象區(qū)域

·光電聯(lián)用

·定時(shí)關(guān)機(jī)

·CORAL™（用于生命科學(xué)的電鏡模塊）

·自動(dòng)拼圖軟件

·樣品觀察

·TESCAN Flow™ (離線(xiàn)處理軟件)

根據(jù)實(shí)際配置和需求