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鑒于FSM1201型傅立葉紅外光譜儀是一種通用型的儀器，配置適中，是基礎(chǔ)科研以及以及常規(guī)檢測必備分析工具。FSM1201型樣品室是標(biāo)準(zhǔn)大尺寸，可以適用多種配套附件和裝置，包括ATR衰減全反射附件， 水平衰減全反射附件， 漫反射附件、鏡面全反射附件、恒溫氣體樣品池等，也可以實(shí)現(xiàn)TG-FTIR熱重紅外連用技術(shù)等。
FSM1201型主要技術(shù)指標(biāo)：
光譜范圍， cm -1 | 400～7800 |
光譜分辨率， cm -1 | 1 |
信噪比， 1min， 4cm -1 | >20000 |
圖譜采集時(shí)間， 4cm -1 | 1 sec |
分束器材料 | KBr Ge鍍層 |
檢測器 | LiTaO3 |
樣品室尺寸，mm | 150х190х170 |
儀器尺寸， mm | 520х370х250 |
儀器重量， kg | 28 |
FSM1201型基礎(chǔ)科學(xué)應(yīng)用案例：
文獻(xiàn)資料：Correlations in Infrared Spectra of Nanostructures Based on Mixed Oxides
ISSN 1063-7834， Physics of the Solid State， 2015， Vol. 57， No. 12， pp. 2373–2381. . Pleiades Publishing， Ltd.， 2015.
標(biāo)題：基于混合氧化物的納米結(jié)構(gòu)的紅外光譜圖相關(guān)性的研究
簡介：采用SnO2-SiO2體系Sol-Gel溶膠—凝膠技術(shù)制造用于傳感器的納米薄膜，用INFRASPEK FSM 1201型傅立葉紅外光譜儀及配套MNPVO36型ATR衰減全反射附件測定不同組成的溶膠圖譜并找出相關(guān)性（圖1）。為解決氧化硅基底強(qiáng)吸收峰的背景影響，對納米薄膜紅外圖譜采集通過配套的PZO30鏡面反射附件完成（圖6）。
FSM1201型常規(guī)檢測適用標(biāo)準(zhǔn)：
ASTM D 4053、ASTM、ASTM D 5845、ISO 7106、ISO 4650、ISO 9622、ISO 13884、ASTM D 2124、ASTM D 2238、ASTM D 2357、ASTM D 2702、ASTM D 3124、ASTM D 3414、ASTM D 3594、ASTM D 3677、ASTM D 3900、ASTM D 3921、ASTM D 4660、ASTM D 5576、ASTM D 5594、ASTM D 5670、ASTM D 6047、ASTM D 6248、ASTM D 6342、SEMI MF1188、SEMI MF1391、SEMI MF951、SEMI MF95
部分附件描述：
MNPVO36型ATR衰減全反射附件 用于研究液體、粉末、薄膜的化學(xué)成分。該方法大幅度簡化了制樣過程，適用于快速檢測產(chǎn)品質(zhì)量。 主要性能： - 7次內(nèi)部反射保證對低濃度高靈敏的測定； - 標(biāo)準(zhǔn)材料為ZnSe，可以定制Ge或者Si； - 吸收層選用厚度為1~50微米； - 光譜測量時(shí)間1~2分鐘。 | |
PZO30型鏡面反射附件 鏡面反射紅外光譜法是用于研究薄膜鍍層的一種理想的分析方法。無需樣品預(yù)處理就可以進(jìn)行表面和薄膜的無損檢測并測定薄膜厚度。根據(jù)鍍層厚度選用相應(yīng)的鏡面反射的角度，我供應(yīng)附件從10到80°反射角。 | |
片狀糊狀樣品分析附件 | |
液體樣品分析附件 | |
氣體樣品分析附件 |
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