看了自jasco,自動絕對反射率測量系統(tǒng)ARMV734/735的用戶又看了
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▼概要
自動**反射率測量裝置一邊變化照到樣品的入射角,一邊測量反射率以及透過。用于太陽能電池零件,半導體,薄膜,光學元件等各種固體樣品的分光特性或者膜厚等的測量。入射角通過旋轉樣品臺設定,受光角通過滑動積分球控制。另外,能用非同步方式分別設定入射角和受光角。而且,根據任意設定P偏光和S偏光角度,能研究樣品的偏光特性。
可選擇用在緊湊的中型機種V-600系列紫外可見近紅外分光光度計上,也可以選擇用在適合高分辨率,高吸光度測量的V-7000系列紫外可見近紅外分光光度計上。
◆裝置特點
?PC直接控制設定角度及光譜測量等條件?測量范圍廣,從紫外到近紅外區(qū)域?雙光束光學系統(tǒng),測光穩(wěn)定性好?可分別控制入射角、受光角?標配偏光測量功能?專用的樣品池支架,樣品的裝卸簡單
◆規(guī)格
▼ARMV-734/ARMN-735 自動**反射率測量組件(V-600用)
型號 | ARMV-734 | ARMN-735 |
測定波長范圍 | 250~850nm | 250~2000nm |
測量方式 | 測量**反射率、測量透過率 | |
入射角 | 5°~ 60°(測量**反射率)、0°~ 60°(測量透過) 0 ~ 85℃(大入射角樣品支架、選項) | |
角度間隔 | 0.1°間隔 | |
設定方式 | 同期、非同期(入射部和受光部) | |
測量偏光 | S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)、任意設定 |
※ARMV-734用于V-650,660、ARMN-735用于V-670。
▼VAR-7010/7020/7030 自動**反射率測量組件(V-7000用)
型號 | VAR-7010 | VAR-7020 | VAR-7030 |
測量波長范圍 | 250~900nm | 250~2000nm | 250~1800nm |
測定方式 | 測量**反射率、測量透過率 | ||
入射角 | 5°~ 60°(測量**反射率)、0°~ 60°(測量透過) 0 ~ 85℃(大入射角樣品支架、選項) | ||
角度間隔 | 0.1°間隔 | ||
設定方式 | 同期、非同期(入射部和受光部) | ||
測量偏光 | S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°) |
※VAR-7010用于V-7100、VAR-7020用于V-7200、 VAR-7030用于V-7300。
暫無數(shù)據!