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1、應(yīng)用范圍：
-鑭系錒系復(fù)合物的光學(xué)性能研究
-手性發(fā)光材料的光學(xué)活性研究
-手性發(fā)光納米粒子的光學(xué)活性研究
2、測試原理
當(dāng)發(fā)光手性分子被光激發(fā)后，產(chǎn)生的熒光在左右圓極化強(qiáng)度方面會體現(xiàn)出一定的差異性，這種現(xiàn)象被認(rèn)為是圓偏振發(fā)光性（CPL）。常規(guī)的CD波譜儀僅能檢測材料基態(tài)的手性，而該儀器能檢測材料激發(fā)態(tài)的手性信息。
3、技術(shù)特點(diǎn)：
-靈敏度高
-空冷150W氙燈光源
-高的信噪比
規(guī)格
光源 | 150W 空冷氙燈 (選配:150W 空冷HgXe等) |
檢測器 | 光電子倍增管PMT |
調(diào)幅器 | 壓電彈性調(diào)幅器 |
電氣系統(tǒng) | 鎖定放大器 |
單色器 | Ex (激發(fā))和 Em (發(fā)射)部分均為雙棱鏡單色器 |
測量波長范圍 | 250到 850 nm 400 到1100 nm (選配 PMT檢測器) |
波長精度 | ±0.2 nm (250 to 500 nm) ±0.5 nm (500 to 800 nm) ±1.5 nm (800 to 1100 nm) |
波長重現(xiàn)性 | ±0.05 nm (250 to 500 nm) ±0.1 nm (500 to 800 nm) ±0.5 nm (800 to 1100 nm) |
狹縫寬度 | 1 - 4000 μm |
數(shù)字積分時(shí)間(D.I.T.) | 0.1 msec to 30 sec |
掃描方式 | 連續(xù)掃描 步進(jìn)掃描 自動反應(yīng)(D.I.T)掃描 |
掃描速度 | 10000 nm /分鐘 |
測光模式 | CD (AC電子元件元件 = CPL)，DC (DC 電子元件=熒光)，HT (高電壓f PMT)， and AC/DC |
CPL分辨率 | 0.00001 mdeg |
波長分辨率 | 0.025 nm |
雜散光 | 小于0.001% |
外部輸入端子 | 雙通道數(shù)據(jù)采集(輸入范圍: -1 to 1 V DC) |
汞燈 | 用于儀器校準(zhǔn) |
遮板 | 在EX激發(fā)和Em發(fā)射單色器 |
樣品室 | 150 mm (W) x 310 mm (D) x 165 mm (H) |
尺寸 | 2000 mm (W) x 700 mm (D) x 1000 mm (H) |
重量 | 180 kg |
滿量程 | ± 8000 mdeg |
功率 | 100 - 240 V 50/60 Hz， 400 VA |
程序軟件包 | 光譜管理器2 |
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