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----源自荷蘭飛利浦
Phenom Pro 放大倍數(shù)100,000倍,分辨率優(yōu)于17nm,30秒快速得到表面細(xì)節(jié)豐富的優(yōu)質(zhì)顯微像。是一款功能齊全的高分辨率臺(tái)式掃描電鏡,可用于測量亞微米或納米尺寸的樣品。Phenom Pro可選配豐富的拓展功能選件Phenom Pro Suite,如三維粗糙度重建、纖維直徑和孔洞面積(孔隙率)統(tǒng)計(jì)分布、高倍拼圖、遠(yuǎn)程控制操作等。
PhenomPro臺(tái)式掃描電鏡 專業(yè)版 —— 智能、高效、多功能 ? 放大倍數(shù):20×-100,000× ? 分辨率:優(yōu)于17nm ? 電子槍:1500小時(shí)CeB6燈絲 ? 抽真空時(shí)間:10秒 ? 樣品移動(dòng)方式:自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái) ? 樣品定位方式:光學(xué)和低倍電子雙重導(dǎo)航 ? 樣品導(dǎo)電性要求:無需噴金,直接觀測絕緣體 ? 拓展功能:3D粗糙度重建、纖維統(tǒng)計(jì)測量,高倍拼圖等 ? 環(huán)境掃描選件(ESEM):溫控樣品臺(tái),可直接觀測液體 Phenom Pro (臺(tái)式掃描電鏡 專業(yè)版) 采用壽命高達(dá)1500小時(shí)的新一代CeB6燈絲和分辨率更高,功能更全的光學(xué)顯微鏡,提高后的光學(xué)顯微鏡有聚焦功能,放大倍數(shù)在20-120倍之間,具備明場和暗場兩種模式。 |
表面細(xì)節(jié)豐富的高分辨率照片 | ||
Phenom Pro 為您提供高信噪比、表面細(xì)節(jié)豐富的優(yōu)質(zhì)圖像: | ||
? 20×-100,000×連續(xù)放大,分辨率優(yōu)于17nm,大景深; | ||
? 信號較少的鎢燈絲電鏡通過提高加速電壓來產(chǎn)生更多信號,密度較小的樣品會(huì)因?yàn)殡娮哟┩高^深而導(dǎo)致表面細(xì)節(jié)缺失。信號是鎢燈絲10倍以上的CeB6在低 | ||
電子穿透深度淺,避免樣品被破壞,展現(xiàn)更多表面細(xì)節(jié); | ||
? 探測背散射電子,展現(xiàn)清晰形貌結(jié)構(gòu)的同時(shí),提供豐富的成份信息; | ||
左圖:5kV低加速電壓下,電子反應(yīng)區(qū)位于樣品表面,配合高亮度CeB6燈絲,既保證了分辨率,又得到樣品表面的信息; 右圖:15kV高加速電壓下,電子穿透深度較深,表面細(xì)節(jié)丟失 | CeB6燈絲在樣品表面單位面積內(nèi)激發(fā)的信號約是鎢燈絲的10倍,適合于低加速電壓觀測 |
表面形貌和成分信息同時(shí)展現(xiàn) | |
背散射電子的產(chǎn)率、出射角度與樣品成份及表面形貌相關(guān)。Phenom采用4分割半導(dǎo)體背散射電子探測器,為您提供兩種成像模式,模式之間可迅速切換: | |
? 成份模式:同時(shí)給出樣品表面形貌與成份信息,不同元素可由其灰度對比度的不同加以分辨 | |
? 形貌模式:去除成份信息,樣品表面凹凸起伏等微觀結(jié)構(gòu)更加明晰,適用于表面粗糙度和缺陷分析 | |
成份模式4分割背散射電子探測器扇區(qū)所得的信號相疊加 | 形貌模式4分割背散射電子探測器扇區(qū)所得的信號相抵消 |
成份模式圖像包含樣品成份與形貌信息 | 形貌模式圖像僅突出樣品表面形貌特征 |
**樣品杯,30秒快速成像 | |
Phenom**樣品杯、低真空設(shè)計(jì)、**的真空封鎖技術(shù),裝入樣品后30秒內(nèi)即可得到高質(zhì)量圖像,耗時(shí)僅為傳統(tǒng)電鏡的1/10左右。 |
直接觀看絕緣體,無需噴金 |
Phenom采用低真空技術(shù),出射電子與空氣分子碰撞產(chǎn)生正離子,正離子與樣品表面累積的電子中和,有效抑制荷電效應(yīng)的產(chǎn)生,直接觀測各種不導(dǎo)電樣品(如下圖所示)。 利用降低荷電效應(yīng)樣品杯,更可將開始荷電的放大倍數(shù)提高8倍左右,而且不會(huì)影響燈絲壽命,下圖頭發(fā)示例: |
操作簡便,全程導(dǎo)航 | ||
? 自動(dòng)/手動(dòng)聚焦 | Phenom操作界面。通過點(diǎn)擊右側(cè)圖標(biāo)可以輕松完成圖像縮放、聚焦、亮度對比度調(diào)節(jié)、旋轉(zhuǎn)等操作。界面右側(cè)顯示光學(xué)導(dǎo)航和低倍SEM導(dǎo)航窗口,方便用戶在不同樣品、不同區(qū)域間進(jìn)行切換。 | |
? 自動(dòng)/手動(dòng)亮度 | ||
? 自動(dòng)/手動(dòng)對比度 | ||
? 自動(dòng)燈絲居中調(diào)節(jié) | ||
? 自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái) | ||
? 光學(xué)/電子樣品導(dǎo)航 |
光學(xué)導(dǎo)航,所有帶觀測樣品盡在視野之中,高倍下準(zhǔn)確切換樣品,只需點(diǎn)擊感興趣樣品,即可自動(dòng)移動(dòng)到屏幕中央 | |
低倍SEM照片導(dǎo)航,導(dǎo)航窗口中的彩色矩形框指示了住觀測窗口的觀測區(qū)域,點(diǎn)擊感興趣的區(qū)域,自動(dòng)移動(dòng)到樣品中央。 |
環(huán)境適應(yīng)性高,完全防震 |
Phenom可以放置在幾乎所有的室內(nèi)環(huán)境當(dāng)中,無需超凈間。采用燈絲、探測器、樣品臺(tái)相對一體化的設(shè)計(jì),震動(dòng)不會(huì)引起三者間的相對運(yùn)動(dòng),使Phenom成像不受震動(dòng)影響,可放置在較高樓層。 |
互聯(lián)網(wǎng)遠(yuǎn)程檢測 |
Phenom擁有遠(yuǎn)程檢測功能,通過網(wǎng)絡(luò),專業(yè)工程師可隨時(shí)為您遠(yuǎn)程檢測系統(tǒng)、答疑解難,為您提供全方位的保護(hù),讓您的Phenom隨時(shí)處于**工作狀態(tài)。 |
豐富的拓展功能選件 |
適用于不同領(lǐng)域的樣品杯選件 |
暫無數(shù)據(jù)!