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荷蘭SunLab Corescan、Sherescan測試系統
針對網印，燒結制程優(yōu)化的**工具
針對擴散發(fā)射極方塊電阻生產高效率電池片，提高良率**工具
1、通過CoreScan掃描Rs，可以得到整個電池片的串聯電阻分布圖。從而判斷影響此因素的原因，如：燒結溫度過高過低、磷硅玻璃是否去除干凈，發(fā)射層是否平整均勻，電極是否有虛印、斷線等等。
2、 通過ShuntScan掃描Rsh，可以得到整個電池片的并聯電阻分布圖。判斷影響此項參數的原因，如：銀鋁漿對正表面的污染、刻蝕不足、過燒以及SiC層結是否有階梯等問題。
3、 通過VocScan掃描Voc，可以得到開壓分布圖。判斷影響此項參數的原因，如：BSF的均勻性、原材料的均勻性等。
4、 通過LBIC Scan，得到電流分布圖。可以判斷：原材料缺陷，也可以說明鈍化或是鍍膜效果。
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