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瑞士CSM 納米壓痕測試儀(NHT2)
完全符合 ISO 與 ASTM 國際標準
儀器簡介：
CSM NHT2 （NHT第二代）納米壓痕測試儀采用了UNHT（CSM超納米壓痕儀）的先進技術，其靈敏度及噪音水平和穩(wěn)定性得以顯著提高。采用先進的top reference（表面參比測試技術）設計， NHT2 納米壓痕儀將熱漂移效應（thermal drift）降低到了0.02nm/s的水平?？蛻舨恍枰浖M近似扣除即可獲得可靠、穩(wěn)定的數據，也不需要長期甚至隔夜的穩(wěn)定時間，對實驗室的環(huán)境要求大為降低。
儀器應用：
NHT2 納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應力-應變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性?？蛇m用于有機或無機、軟質或硬質材料的檢測分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學薄膜，微電子鍍膜，保護性薄膜，裝飾性薄膜等等?；w可以為軟質或硬質材料，包括金屬、合金、半導體、玻璃、礦物和有機材料等。
主要特點：
獨特的參比環(huán)設計-實時消除大部分熱漂移
帶有反饋系統(tǒng)的載荷加載系統(tǒng)
靈活的試樣夾具可夾持各種尺寸試樣（無需用膠粘結試樣）
高質量金相顯微鏡觀測系統(tǒng)
計算機軟件包，自動進行數據獲取、儲存、分析等
豐富、靈活的擴展空間
技術參數：
載荷范圍：0-500mN
載荷分辨率：40nN
**壓入深度：200um
位移分辨率： 0.004nm
選件：
其它力學測試模塊（如微納米劃痕、超納米壓痕等）
真空及環(huán)境(溫度、濕度）控制
原子力顯微鏡成像系統(tǒng)
環(huán)境隔離罩
暫無數據！
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