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日立熒光分布成像系統(tǒng)EEM View
日立熒光分布成像系統(tǒng)EEM View

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日本

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日立科學儀器(北京)有限公司

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一、熒光分布成像系統(tǒng)(EEM View)簡介

作為熒光分光光度計的配件系統(tǒng),這是全球首創(chuàng)將相機與熒光分光光度計的**結合,融合了智能算法的先進技術。能夠同時獲取樣品圖像和光譜信息。

新型熒光分布成像系統(tǒng)可安裝到日立F-7000/71000熒光分光光度計的樣品倉內。入射光經過積分球漫反射后均勻照射到樣品,利用熒光光度計標配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜,積分球下方的CMOS相機可獲得樣品圖像,并利用獨特的AI光譜圖像處理算法,可以同時得到反射和熒光成分圖像。

二、 熒光分布成像系統(tǒng)特點:

1. 可以全面測定樣品的光譜數據(反射光、熒光特性)

不同光源條件下(白光和單色光)拍攝樣品圖像,(區(qū)域:Φ20mm、空間分辨率:0.1 mm左右、波長范圍:360-700nm),同時利用先進的光譜算法,分別顯示熒光圖像和反射圖像, 根據圖像可獲得不同區(qū)域的光譜信息(熒光光譜、反射光譜)

熒光分布成像系統(tǒng)軟件分析(EEM View Analysis)界面(樣品:LED電路板)

2. 樣品安裝簡單,適用于各種樣品測試

樣品只需擺放到積分球上,安裝十分簡單!

豐富的樣品支架

支持精確測量的校正工具

熒光分布成像系統(tǒng)是一種全新的技術,將它配置到熒光分光光度計中,改變了常規(guī)熒光光度計只能獲得樣品表面區(qū)域平均化信息的現狀,可以查看樣品圖像任意區(qū)域的光譜信息,十分適合涂料、材料、油墨、LED、化工等領域。

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