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GE Nanotom s奈米焦點(diǎn)高分辨率CT系統(tǒng)
GE Nanotom s奈米焦點(diǎn)高分辨率CT系統(tǒng)

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先馳精密儀器(東莞)有限公司

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主要特色:

  • 180 kV/ 15 Wnanfocus CT®系統(tǒng),擁有長(zhǎng)久耐用的開(kāi)放式X射線管,只需要少量的維護(hù)即可。

  • 高精度-空氣軸承旋轉(zhuǎn)裝置提供了高精準(zhǔn)的CT掃描影像

  • 通過(guò)菱形或窗口(可選擇)以同樣的高分辨率影像水平進(jìn)行快達(dá)2倍的資料采集

  • 基於花崗巖的操作和可選擇性的熱安定性,提供**的精密度及高穩(wěn)定性

  • 可於1小時(shí)之內(nèi)自動(dòng)生成**件檢測(cè)記錄

  • 提供從亞um到高強(qiáng)度應(yīng)用模式的4種操作模組

  • 使用**的軟體模組以確保**的CT影像質(zhì)量且易於使用,例如:

    ▲ 使用datos / x 2.0點(diǎn)選并直接測(cè)量CT來(lái)進(jìn)行高精度度并可重現(xiàn)的3D測(cè)量: CT掃描、重組及分析過(guò)程的全自動(dòng)化執(zhí)行。

    ▲ 通過(guò)VELO / CT在幾秒鐘或幾分鐘內(nèi)(取決於樣品體積大小)完成更快速的3D-CT重組影像

  • 極為精簡(jiǎn)的掃描系統(tǒng),非常適用於小型實(shí)驗(yàn)室使用。

  • nanoCT可以將圖層面板逐層顯示玻璃纖維復(fù)合材料的nano-CT ®∶纖維氈(藍(lán)色)的纖維方向和基質(zhì)樹(shù)脂(橙色)會(huì)清楚顯示出來(lái)

    利用3D檢視焊接接點(diǎn)內(nèi)部的空隙間隙分布清晰可見(jiàn)對(duì)氣缸蓋3個(gè)裝置的CAD差異分析和測(cè)量

    玻璃纖維增強(qiáng)塑料樣品的nano-CT ®∶ 玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的排列和分布都清晰可見(jiàn)。纖維大約有10um寬高分辨率電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)廣泛用於檢測(cè)地質(zhì)樣品
    設(shè)備規(guī)格

    **管電壓

    180 kV

    **功率

    15 W

    細(xì)節(jié)檢測(cè)能力

    高達(dá)200nm (0.2µm)

    *小焦物距

    0.4um

    **3D像素分辨率

    < 500nm (0.5µm)

    幾何放大倍率(3D)

    1.5 倍到100 倍

    **目標(biāo)尺寸(高x 直徑)

    150mm x 240mm/ 5.9" x 6.4"

    **樣品重量

    2 kg/ 4.4 lb

    圖像鏈

    500萬(wàn)畫(huà)素平板數(shù)位檢測(cè)器陣列

    2D X射線成像

    不可

    3D電腦斷層掃描

    可以

    先進(jìn)的表面提取

    可以(可選)

    CAD 比較+ 尺寸測(cè)量

    可以(可選)

    系統(tǒng)尺寸

    (1640 x 1430 x 750 mm), (64.6” x 56.3” x 29.5”)

    系統(tǒng)重量

    1300kg/ 2866 lb

    輻射安全

    - 全防輻射安全機(jī)櫃,依據(jù)德國(guó)ROV和美國(guó)性能標(biāo)準(zhǔn)

    21 CFR 1020.40 (機(jī)櫃X-Ray系統(tǒng))。

    - 輻射洩漏率:從機(jī)臺(tái)壁的10cm處測(cè)量 <1.0µSv/h。

地質(zhì)/生物科學(xué)
高分辨率電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)廣泛用於檢測(cè)地質(zhì)樣品,例如:新資源的探索。高分辨率CT-系統(tǒng)以微觀高解析提供巖石樣品、粘合劑、膠合劑和空洞的3D圖像,並幫助分辨特定的樣品特徵,如含油巖石中空洞的大小和位置。
塑料工程
在塑料工程中,高分辨率的X射線技術(shù)用於通過(guò)探測(cè)縮孔、水泡、焊接線和裂縫並分析缺陷來(lái)優(yōu)化鑄造和噴塗過(guò)程。 X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與nano ct)提供具有以下物體特點(diǎn)的3D圖像:如晶粒流模式和填料分佈,以及低對(duì)比度缺陷。

玻璃纖維增強(qiáng)塑料樣品的nano-CT ®: 玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的排列和分佈都清晰可見(jiàn)。纖維大約有10um寬。

測(cè)量
用X射線進(jìn)行的3D測(cè)量是**的可對(duì)複雜物體內(nèi)部進(jìn)行無(wú)損測(cè)量的技術(shù)。通過(guò)與傳統(tǒng)式觸覺(jué)坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)的比較,對(duì)一個(gè)物體進(jìn)行電腦斷層掃描的同時(shí)可獲得所有的曲點(diǎn): 包括所有無(wú)法使用其他測(cè)量方法無(wú)損害進(jìn)入的隱蔽形體,如底切。 v/tome/xs 有一個(gè)特殊的3D測(cè)量包,其中包含空間測(cè)量所需的所有工具,從校準(zhǔn)儀器到表面提取模組,具有可能的**精度,可再現(xiàn)且具親和力. 除了2D壁厚測(cè)量外,CT數(shù)據(jù)可以快速方便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,例如,分析完成元件,以確保其符合所有的規(guī)定尺寸。

對(duì)氣缸蓋3個(gè)裝置的CAD差異分析和測(cè)量。

感應(yīng)器學(xué)和電氣工程
在感應(yīng)器和電子組件的檢測(cè)中,高分辨率X射線技術(shù)主要用於檢測(cè)和評(píng)估接觸點(diǎn)、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。甚至可以檢測(cè)半導(dǎo)體元件和電子設(shè)備(焊點(diǎn)),而無(wú)需拆卸設(shè)備。

Nano-CT ®顯示CSP組件的焊接接點(diǎn)。焊接接點(diǎn)的3D形狀,約直徑400um,空隙間隙分佈清晰可見(jiàn)。焊接接點(diǎn)內(nèi)部,不同的共晶焊料相是可見(jiàn)的。

材料科學(xué)
高分辨率電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct)用於檢測(cè)材料、複合材料、燒結(jié)材料和陶瓷,但也可應(yīng)用於地質(zhì)或生物樣品進(jìn)行分析。材料分配、空隙率和裂縫在微觀上是3D可視的。

玻璃纖維複合材料的nano-CT ®:纖維氈(藍(lán)色)的纖維方向和基質(zhì)樹(shù)脂(橙色)會(huì)清楚顯示出來(lái)。圖片右邊: 樹(shù)脂內(nèi)的空洞會(huì)以暗體出現(xiàn)。左邊: 樹(shù)脂已淡出,以更好地使纖維氈可視化。氈內(nèi)的單跟纖維是可見(jiàn)的。

3D電腦斷層掃描
工業(yè)X射線3D電腦斷層掃描(micro-ct 與nano-ct) 的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用是對(duì)金屬和塑料鑄件的檢測(cè)及3D測(cè)量。phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開(kāi)闢了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用,如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。

SMD感應(yīng)器的nanoCT®, 尺寸0805 (2.0 mmx 1.2 mm). 三維X射線圖像顯示了後蓋後的內(nèi)部線圈。在任何常規(guī)的X光片中,圖層面板都是重疊的,但nanoCT ®成功地將對(duì)象逐層顯示。

創(chuàng)新點(diǎn)

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性價(jià)比

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