參考價(jià)格
面議型號(hào)
品牌
產(chǎn)地
其他國(guó)家樣本
暫無(wú)看了四探針測(cè)試系統(tǒng)（自動(dòng)款）的用戶又看了
留言詢價(jià)
虛擬號(hào)將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號(hào)
儀器簡(jiǎn)介：
此系統(tǒng)通過(guò)手動(dòng)或自動(dòng)方式實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面的點(diǎn)電阻或面電阻進(jìn)行測(cè)量表征，可通過(guò)圖譜，數(shù)據(jù)，2D或3D方式體現(xiàn)；儀器與電腦連接使用，可通過(guò)專業(yè)軟件進(jìn)行控制，分析。表面電阻(ohm/sq)，電阻率（ohm.cm)測(cè)試?yán)硐氲墓ぞ摺?/p>
廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽(yáng)能電池，LCD，OLED，觸摸屏。。。
技術(shù)參數(shù)：
面電阻測(cè)量：
- 測(cè)量模式 : 接觸式 4-探針
電阻率測(cè)量：
- 測(cè)量模式 : 接觸式 4-探針 (可輸入厚度)
軟件系統(tǒng)：
- 測(cè)量條件靈活 : Wafer type， 點(diǎn)間隔測(cè)量， etc.
- 儲(chǔ)存& 下載 : 數(shù)據(jù)， wafer 型， 測(cè)試點(diǎn)， etc.
- 數(shù)據(jù)分析 : 2D， 3D mapping， data map， etc.
- On/Off : 電腦操控， 真空
- 數(shù)據(jù) & mapping 可打印
測(cè)量模式 (S/W)
-自動(dòng)檢測(cè): Point interval designation by user
-快速檢測(cè) : ASTM & SEMI Mode
-點(diǎn)測(cè)量: Appointment on wafer by mouse
-手動(dòng)檢測(cè) : Appointment on wafer by arrow key
主要特點(diǎn)：
-X，Y，Z-軸全自動(dòng)控制系統(tǒng)
-自動(dòng)& 手動(dòng)范圍可選
-樣品臺(tái)尺寸可根據(jù)客戶訂制
-通過(guò)PC進(jìn)行控制
-數(shù)據(jù)分析 (2D， 3Dmap etc)
-ASTM & SEMI 快速測(cè)量模式
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
四探針測(cè)試系統(tǒng)（自動(dòng)款）的工作原理介紹？四探針測(cè)試系統(tǒng)（自動(dòng)款）的使用方法？四探針測(cè)試系統(tǒng)（自動(dòng)款）多少錢一臺(tái)？四探針測(cè)試系統(tǒng)（自動(dòng)款）使用的注意事項(xiàng)四探針測(cè)試系統(tǒng)（自動(dòng)款）的說(shuō)明書有嗎？四探針測(cè)試系統(tǒng)（自動(dòng)款）的操作規(guī)程有嗎？四探針測(cè)試系統(tǒng)（自動(dòng)款）的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？四探針測(cè)試系統(tǒng)（自動(dòng)款）有現(xiàn)貨嗎？四探針測(cè)試系統(tǒng)（自動(dòng)款）包安裝嗎？
手機(jī)版：
工商已核實(shí)
