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RIGAKU日本理學新一代形貌檢測系統(tǒng) XRTmicron
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RIGAKU日本理學新一代形貌檢測系統(tǒng) XRTmicron

品牌

上海翱晶

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上海

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●X射線源:微焦點高亮度旋轉(zhuǎn)陽極

●入射光學器件:多層平行光束準直器

●可使用晶體準直器

●自動更換樣品(以水平配置為例)

●兼容投射&反射幾何的測角儀系統(tǒng)

●使用高靈敏度和高分辨率X 射線照相機捕獲數(shù)字圖像

●位錯形貌圖像分析

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