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· 同步吸收- 熒光光譜儀

· UV-Vis-NIR 熒光檢測波長范圍250 nm-1100 nm

·  一秒內獲取三維熒光全譜

· 超高熒光靈敏度，水拉曼RMS 6000:1

·  自動校準主次內濾效應

· 獨有的A-TEEM ^TM 指紋熒光技術，高保真識別分子指紋

· CCD 檢測器實現(xiàn)毫秒內完成整個熒光光譜采集

Duetta 可作為熒光光譜儀使用，也可以作為UV-Vis-NIR 光譜儀測量吸光度，或用于測量真正的分子指紋，這需要同步獲取熒光和吸光度，同時進行內濾效應校正。

Duetta 標配超快先進的CCD 技術，讓它在采集速度的數(shù)倍優(yōu)于任何使用PMT 的熒光光譜儀。Duetta 是一款能在100 毫秒內獲得250nm-1100nm 校正光譜信息的一體式熒光光譜儀。這一CCD 技術也將近紅外檢測光譜范圍擴展到1100 nm，遠超過標準PMT 熒光儀的光譜范圍。

經(jīng)過優(yōu)化設計的Duetta，擁有高水平的靈敏度，意味著可測更低濃度的樣品，并提供更準確的數(shù)據(jù)。

Duetta 使用HORIBA 新一代EzSpec 軟件，使熒光光譜儀從此進入了智能觸屏時代，生動立體的人機互動，用戶體驗感****；升級常規(guī)分析用軟件模塊，可具有定制化、個性化分析測試。