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HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列

HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列
  • 品牌:HORIBA
  • 產(chǎn)地:日本
  • 關(guān)注度:13010
  • 型號(hào):SZ-100系列
  • 報(bào)價(jià):面議
  • 信息完整度:
核心參數(shù)
  • 儀器原理:其他
  • 測(cè)量時(shí)間:2分鐘
  • 測(cè)量范圍:0.3nm-8.0μm
產(chǎn)品介紹

SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質(zhì)方面是靈活的分析工具。根據(jù)不同的配置和應(yīng)用程序可以完成顆粒度的分析,zeta電位的檢測(cè),分子量(Mw)以及第二維利系數(shù)(A2)的測(cè)定。SZ-100的典型應(yīng)用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。

顆粒分析儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理(DLS)。根據(jù)樣品的物理性質(zhì),動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍為0.3 nm – 8 μm。檢測(cè)范圍的下限受到以下因素的影響:樣品濃度、樣品對(duì)光的散射強(qiáng)度以及大的雜質(zhì)顆粒的存在。檢測(cè)上限受樣品濃度影響,因?yàn)镈LS原理是顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)而不是重力沉降。

SZ-100以顆粒表面電荷特性來(lái)檢測(cè)懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池,通過(guò)顆粒電泳遷移率的結(jié)果計(jì)算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩(wěn)定性的一個(gè)指標(biāo)。Zeta電位的數(shù)值較大表明顆粒帶電較多,斥力較大,較難發(fā)生團(tuán)聚,溶液保持穩(wěn)定。通常根據(jù)pH值或其他化學(xué)參數(shù)的改變檢測(cè)zeta電位以便于設(shè)計(jì)可長(zhǎng)時(shí)間保存的產(chǎn)品。相反地,發(fā)現(xiàn)zeta電位為零時(shí)(就是說(shuō),樣品處于等電點(diǎn)),就要考慮選擇**條件將顆粒進(jìn)行絮凝和分離。

SZ-100還可以用于檢測(cè)蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。用戶準(zhǔn)備幾個(gè)已知濃度的溶液,然后使用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線,從而計(jì)算出Mw和A2。

特征

  • 將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)的檢測(cè)集于一身

  • 寬檢測(cè)范圍,寬濃度范圍

  • 雙光路雙角度粒徑測(cè)量(90° 和173°)

  • 多重粒徑測(cè)量模式用于小顆粒和微弱散射光

  • 用于粒徑和zeta電位檢測(cè)的微量樣品池

  • 自動(dòng)滴定儀:可用于zeta電位測(cè)量過(guò)程中pH值的自動(dòng)滴定

測(cè)量范圍

  • 顆粒直徑:0.3nm-8.0μm


測(cè)量精度

  • 粒徑:按照ISO 13321/22412

    • 可溯源的NIST聚苯乙烯乳膠顆粒:100nm測(cè)量精度= +/- 2%

濃度

  • 下限:0.1 mg/mL溶菌酶

  • 上限:40 wt % (視樣品而定)

測(cè)量時(shí)間

  • 粒徑分析一般需大約2分鐘(可自行設(shè)定)

樣品池

  •  比色皿樣品池

取樣量

    • 12μl ~ 4ml* (* 取樣量取決于樣品池容量。)


Zeta電位:激光多普勒法

測(cè)量范圍

  • -200 – +200mV


測(cè)量時(shí)間

    • 一般需大約2分鐘

樣品池

  •  專用一次性樣品池

取樣量

    • ~100μl,一次性樣品池

分子量:靜態(tài)光散射德拜曲線法

測(cè)量范圍

  •  Mw: 1×103 - 2×107 g/mol

樣品池

  •  比色皿樣品池

物理參數(shù)

電源:AC 100-240V, 50/60Hz, 150VA

激光:二極管泵浦倍頻激光器 532 nm,10 mW I級(jí)

接口:USB 2.0,連接電腦與設(shè)備

外形尺寸:385(D) ′ 528(W) ′ 273(H) mm (不計(jì)凸起部分)

重量:25kg

控溫范圍:1-90℃,電極池和塑料池上限為70℃

工作環(huán)境:15-35℃,相對(duì)濕度≤85%,無(wú)結(jié)露

冷凝控制:可連接吹掃氣

測(cè)量技術(shù)

SZ-100采用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量粒徑。樣品顆粒在池中做布朗運(yùn)動(dòng)。光源照入樣品池,散射光被90° 或173°檢測(cè)器采集(如下圖所示)。系統(tǒng)根據(jù)樣品濃度和光強(qiáng)自動(dòng)選擇**的散射角和樣品池位置。

請(qǐng)參見動(dòng)態(tài)光散射具體介紹

散射光信號(hào)進(jìn)入到一個(gè)多通道的相關(guān)器,生成自相關(guān)函數(shù)用以確定顆粒的多分散系數(shù)。然后用Stokes-Einstein方程式計(jì)算粒徑??筛鶕?jù)樣品量和測(cè)量目的自定義樣品池。

zeta電位測(cè)量可使用一次性塑料電極樣品池。系統(tǒng)先測(cè)量樣品的電導(dǎo)率,施加一個(gè)電場(chǎng),然后用電泳光散射測(cè)量粒子運(yùn)動(dòng)。電荷的正負(fù)決定著粒子的移動(dòng)方向,而移動(dòng)方向和移動(dòng)速度決定了電荷的數(shù)量級(jí)(zeta電位)。zeta電位的結(jié)果可用于衡量分散體系的穩(wěn)定性。

請(qǐng)參見Zeta 電位技術(shù)具體介紹

SZ-100通過(guò)對(duì)不同濃度樣品進(jìn)行靜態(tài)光散射測(cè)量計(jì)算出其**分子量值。通過(guò)德拜曲線及樣品濃度就可得出分子量和第二維利系數(shù)。

請(qǐng)參見分子量測(cè)量技術(shù)具體介紹

所有這些測(cè)量都通過(guò)菜單運(yùn)行,軟件操作簡(jiǎn)單。可以選擇合適的樣品進(jìn)行導(dǎo)航程序設(shè)定。初學(xué)者可以選擇默認(rèn)參數(shù)以得到好且高重現(xiàn)性的數(shù)據(jù)。對(duì)于清楚知道樣品分析的熟練者可在高級(jí)選項(xiàng)中進(jìn)行追加設(shè)置。


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  • HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列的工作原理介紹?
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  • HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列多少錢一臺(tái)?
  • HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列使用的注意事項(xiàng)
  • HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列的說(shuō)明書有嗎?
  • HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列的操作規(guī)程有嗎?
  • HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎?
  • HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列有現(xiàn)貨嗎?
  • HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列包安裝嗎?

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自從1953年成立以來(lái),堀場(chǎng)制作所已經(jīng)成長(zhǎng)為一個(gè)主要的分析檢測(cè)儀器和設(shè)備制造商,并且以其高精尖的產(chǎn)品成功地將市場(chǎng)拓展到了全球各個(gè)國(guó)家和地區(qū)。堀場(chǎng)的產(chǎn)品幾乎應(yīng)用于所有的工業(yè)領(lǐng)域企業(yè)中的產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制,包括汽車、半導(dǎo)體、新材料、能源、冶金、食品加工以及科學(xué)研究等領(lǐng)域。堀場(chǎng)的發(fā)動(dòng)機(jī)排放分析儀一直在促進(jìn)著世界范圍內(nèi)的汽車廠商對(duì)低排放高燃燒效率發(fā)動(dòng)機(jī)的開發(fā);公司的大氣污染監(jiān)測(cè)儀和酸雨檢測(cè)設(shè)備在調(diào)查引起全世界關(guān)注的環(huán)境問(wèn)題的原因方面起著極其重要的作用。堀場(chǎng)以為環(huán)境保護(hù)做貢獻(xiàn)為

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