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《顆粒粒度測量技術(shù)及應(yīng)用》 |
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本書是作者所在團(tuán)隊多年來科研成果的總結(jié)，反映和代表了我國目前顆粒粒度測量技術(shù)的水平。內(nèi)容包括顆粒系統(tǒng)的基本知識、光散射基本理論及基于光散射原理的顆粒測量方法和技術(shù)，超聲散射的基本原理和基于超聲的顆粒測量方法和技術(shù)，顆粒測量應(yīng)用中的一些問題等。書中還收錄了顆粒的折射率及物性參數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)顆粒等顆粒測量中涉及到的參數(shù)和資料,對于從事顆粒制備和應(yīng)用研究的科技人員在進(jìn)行顆粒粒度測量時具有很好的參考價值。
本書適合于從事顆粒材料測量、加工、制造行業(yè)的工程技術(shù)人員、研究人員、實驗人員以及高校師生。
第1章顆�；局R1
1?1概述1
1?2顆粒的幾何特性2
1?2?1顆粒的形狀2
1?2?2顆粒的比表面積3
1?2?3顆粒的密度3
1?3顆粒粒度及粒度分布4
1?3?1單個顆粒的粒度4
1?3?2顆粒群的粒徑分布6
1?3?3顆粒群的平均粒度11
1?4標(biāo)準(zhǔn)顆粒13
1?5顆粒測量中的顆粒分散問題16
1?5?1顆粒分散方法概述17
1?5?2常見問題討論18
參考文獻(xiàn)19
第2章光散射基本理論21
2?1衍射散射基本理論21
2?1?1惠更斯?菲涅耳原理21
2?1?2巴卑涅原理23
2?1?3衍射的分類24
2?1?4夫瑯和費單縫衍射25
2?1?5夫瑯和費圓孔衍射26
2?2光散射基本理論28
2?2?1光散射概述28
2?2?2光散射基本知識29
2?2?3經(jīng)典Mie光散射理論32
2?3幾何光學(xué)對散射的描述49
2?3?1概述49
2?3?2計算方法49
2?4非平面波的散射理論54
2?4?1廣義Mie理論54
2?4?2基本理論54
2?4?3波束因子的區(qū)域近似計算59
2?4?4高斯波束入射60
2?4?5數(shù)值結(jié)果61
參考文獻(xiàn)62
第3章散射光能顆粒測量技術(shù)65
3?1概述65
3?2基于衍射理論的激光粒度儀67
3?2?1衍射散射式激光粒度儀的基本原理67
3?2?2多元光電探測器各環(huán)的光能分布69
3?2?3衍射散射法的數(shù)據(jù)處理方法72
3?3基于Mie散射理論的激光粒度儀76
3?4影響激光粒度儀測量精度的幾個因素79
3?4?1接收透鏡焦距的合理選擇79
3?4?2被測試樣的濃度80
3?4?3被測試樣軸向位置的影響82
3?4?4被測試樣折射率的影響84
3?4?5光電探測器對中不良的影響85
3?4?6儀器的檢驗86
3?5激光粒度儀測量下限的延伸86
3?5?1倒置傅里葉變換光學(xué)系統(tǒng)88
3?5?2雙鏡頭技術(shù)89
3?5?3雙光源技術(shù)90
3?5?4偏振光散射強(qiáng)度差(PIDS)技術(shù)90
3?5?5全方位多角度技術(shù)91
3?5?6國產(chǎn)激光粒度儀的新發(fā)展93
3?6角散射顆粒測量技術(shù)96
3?6?1角散射式顆粒計數(shù)器的工作原理97
3?6?2角散射式顆粒計數(shù)器的散射光能與粒徑曲線98
3?6?3角散射式顆粒計數(shù)器F?D曲線的討論101
3?6?4角散射式顆粒計數(shù)器的測量區(qū)及其定義104
3?6?5角散射式顆粒計數(shù)器的計數(shù)效率108
3?6?6角散射式顆粒計數(shù)器的主要技術(shù)性能指標(biāo)109
參考文獻(xiàn)112
第4章透射光能顆粒測量技術(shù)115
4?1消光法115
4?1?1概述115
4?1?2消光法測量原理115
4?1?3消光系數(shù)117
4?1?4消光法的數(shù)據(jù)處理方法119
4?1?5顆粒濃度測量126
4?1?6消光法的粒徑測量范圍及影響測量精度的因素126
4?1?7消光法顆粒測量裝置和儀器128
4?2光脈動法顆粒測量技術(shù)130
4?2?1光脈動法的基本原理131
4?2?2光脈動法的發(fā)展現(xiàn)狀133
4?3消光起伏頻譜法136
4?3?1數(shù)學(xué)模型136
4?3?2測量方法和測量原理138
4?3?3消光起伏頻譜法的發(fā)展現(xiàn)狀147
參考文獻(xiàn)149
第5章動態(tài)光散射測粒技術(shù)的原理和發(fā)展概況153
5?1引言153
5?2動態(tài)光散射測粒技術(shù)的原理155
5?2?1基本概念和基本關(guān)系155
5?2?2粒度測量的一般原理和基本分析157
5?2?3典型裝置和數(shù)據(jù)分析方法160
5?3動態(tài)光散射測粒技術(shù)的發(fā)展概況164
5?3?1動態(tài)光散射技術(shù)的起源和初步定型164
5?3?2動態(tài)光散射測粒技術(shù)的早期發(fā)展166
5?3?3動態(tài)光散射測粒技術(shù)研究開發(fā)的現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢166
參考文獻(xiàn)167
第6章超聲法顆粒測量技術(shù)171
6?1聲和超聲171
6?1?1聲和超聲的產(chǎn)生171
6?1?2超聲波特征量172
6?2超聲法顆粒測量基本概念176
6?2?1聲衰減和聲速測量178
6?2?2能量損失機(jī)理180
6?3超聲法顆粒測量理論182
6?3?1ECAH理論模型183
6?3?2ECAH 理論模型的拓展和簡化193
6?3?3耦合相模型202
6?3?4顆粒測量208
6?3?5基于電聲學(xué)理論的ZETA電勢測量214
6?4小結(jié)215
參考文獻(xiàn)215
第7章納米顆粒的測量219
7?1納米顆粒測量的背景和特點219
7?2動態(tài)光散射納米顆粒測量220
7?3可視法納米顆粒測量223
7?4超聲法納米顆粒測量225
7?4?1超聲法的特點和裝置226
7?4?2納米顆粒檢測的實例227
7?4?3超聲納米顆粒檢測中注意事項230
參考文獻(xiàn)231
第8章反演算法233
8?1約束算法233
8?1?1顆粒粒徑求解的一般討論233
8?1?2約束算法在光散射顆粒測量中應(yīng)用234
8?2非約束算法244
8?2?1非約束算法的一般討論244
8?2?2Chahine算法及其改進(jìn)247
8?2?3投影算法249
8?2?4松弛算法251
8?2?5Chahine算法和松弛算法計算實例253
參考文獻(xiàn)255
第9章工業(yè)應(yīng)用及在線測量257
9?1霧化液滴測量257
9?1?1激光散射法測量258
9?1?2特大霧化液滴粒度測量260
9?2乳濁液中液體顆粒大小的測量261
9?3汽輪機(jī)中濕蒸汽測量262
9?4煙氣輪機(jī)入口顆粒濃度及粒徑的在線測量264
9?5煙霧連續(xù)在線測量266
9?6圖像法測量快速流動顆粒267
9?7電廠氣力輸送煤粉粒徑、濃度和速度在線測量269
9?8超細(xì)顆粒折射率測量271
9?9超聲測量高濃度水煤漿273
參考文獻(xiàn)274
第10章其他顆粒測量方法275
10?1電感應(yīng)法275
10?1?1電感應(yīng)法的基本原理275
10?1?2儀器的配置與使用277
10?1?3測量誤差279
10?1?4小結(jié)283
10?2顯微鏡法283
10?2?1顆粒粒徑的定義284
10?2?2粒徑測量285
10?2?3光學(xué)顯微鏡與電子顯微鏡288
10?2?4小結(jié)290
10?3圖像分析法291
10?3?1顆粒圖像分析的基本概念和方法291
10?3?2顆粒圖像分析過程和結(jié)果表示294
10?3?3小結(jié)297
10?4沉降法299
10?4?1顆粒在液體中沉降的Stokes公式300
10?4?2顆粒達(dá)到最終沉降速度所需的時間301
10?4?3臨界直徑及測量上限302
10?4?4布朗運動及測量下限303
10?4?5Stokes公式的其他影響因素304
10?4?6測量方法及儀器類型306
10?4?7沉降天平309
10?4?8光透沉降法312
10?4?9離心沉降314
10?4?10小結(jié)315
參考文獻(xiàn)316
附錄318
附錄一國內(nèi)外主要顆粒儀器生產(chǎn)廠商318
附錄二國內(nèi)外顆粒測量標(biāo)準(zhǔn)319
附錄三國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)顆粒主要生產(chǎn)廠商325
附錄四液體的黏度和折射率326
附錄五固體化合物的折射率329 |
| 出版社： |
化學(xué)工業(yè)出版社 |
| 作者： |
蔡小舒等著 |
| 出版日期： |
2009-11-30 |
| 價格： |
68 |
| 折扣價： |
68 |
| 在線訂購：
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