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分光光譜儀種類
MCPD-9800：高動態(tài)范圍分光
MCPD-6800：紫外/可見/近紅外光分光光譜儀
MCPD-7700：高感度分光
膜厚測量
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜
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膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜。
影印機感光鼓膜厚度量測
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能能性薄膜、包裝膜
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LB膜測量
蒸餾膜測量
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多點膜厚測量
半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）
光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）
樹脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能能性薄膜、包裝膜
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顯微分光膜厚儀“OPTM”O(jiān)PTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對反射率的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測試，并有獨家專利可針對透明
Zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng)ELSZneoELSZneo是ELSZseries的最高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（ZetaPotential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能
大塚電子利用光技術，開發(fā)出各種分析測量裝置，給客戶提供尖端測量技術支持。以測量技術、應用示例等重點介紹為主，定期舉辦Webinar(網(wǎng)絡研討會)。
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