參考價格
面議型號
RETS series品牌
大塚電子產(chǎn)地
江蘇樣本
暫無看了液晶層間隙量測設備 RETS series的用戶又看了
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
產(chǎn)品信息
特 點
? 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器
? 有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板
? 安全對策和粒子對策,可對應液晶line內(nèi)的檢查設備
測量項目
? 封入cell gap
? twist角 *
? rubbing角 *
? pretilt角[TN,IPS,FFS,MVA] *
? 空cell gap *
? 相位差(復折射相位差)的波長分散 *
? 光學軸 *
? 橢圓率/方位角 *
? 三次元折射率/Rth/β *
? 分光光譜/色度*
測量對象
? 液晶cell
- 透過、半透過型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應電)
- 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA)
? 光學材料
- 其他(相位差?橢圓?偏光膜、液晶材料)
仕 樣
型號 | RETS series |
---|---|
樣品尺寸 | 20mm×20mm ~* |
cell gap測量范圍 | 0.1μm ~數(shù)10μm |
cell gap重復性 | ±0.005μm |
檢出器 | 多通道分光光度計 |
測量波長范圍 | 400nm ~ 800nm |
光學系 | 偏光光學系 |
測量口徑 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
光軸傾斜機構 | -20 ~ 45°、-45 ~ 45°等 |
測量案例
相位差與液晶層間隙值
液晶面內(nèi)分布圖
暫無數(shù)據(jù)!
顯微分光膜厚儀“OPTM”O(jiān)PTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對反射率的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測試,并有獨家專利可針對透明
Zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng)ELSZneoELSZneo是ELSZseries的最高級機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位(ZetaPotential,ζ-電位)和粒徑測定之外,還能
大塚電子利用光技術,開發(fā)出各種分析測量裝置,給客戶提供尖端測量技術支持。以測量技術、應用示例等重點介紹為主,定期舉辦Webinar(網(wǎng)絡研討會)。