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AM0 & AM1.5G 超AAA級(jí)全光譜太陽(yáng)光模擬器/雙光源太陽(yáng)能模擬器,代表了目前太陽(yáng)光模擬器的**技術(shù),目前由日本SAN-EI公司開(kāi)發(fā)完成,并且已交付日本產(chǎn)業(yè)綜合技術(shù)研究所AIST使用;該設(shè)備在性能方面已經(jīng)大大超越目前AAA級(jí)的國(guó)際要求,為深層次太陽(yáng)能電池計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)化、研究和研發(fā)新一代太陽(yáng)能電池提供有力的手段;
可廣泛應(yīng)用于各種太陽(yáng)能電池的測(cè)試:非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon,nc-Si,Microcrystalline Silicon,mc-Si)、半導(dǎo)體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]、燃料敏化電池(DSSC)、有機(jī)導(dǎo)電高分子(Organic/polymer solar cells) 、CIGS (銅銦硒化物)等,尤其是對(duì)于薄膜多結(jié)太陽(yáng)能電池測(cè)試;
技術(shù)參數(shù): AM1.5G A級(jí)光譜 & AM0高匹配光譜!
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化太陽(yáng)能模擬器(超AAA級(jí)),太陽(yáng)光模擬器(超AAA),Super AAA Class Solar Simulator;太陽(yáng)能電池IV測(cè)試儀,量子效率,光譜響應(yīng)及IPCE測(cè)量系統(tǒng);
1,采用**雙光源混合燈體設(shè)計(jì);
2,有效照光面積:2inch×2inch,4inch×4inch,6inch×6inch,8inch×8inch,10inch×10inch,12inch×12inch,500mm*500mm等(其他尺寸可定制);
(組件/模組測(cè)試儀、穩(wěn)態(tài)組件太陽(yáng)光模擬器);
3,光譜不匹配度:AM1.5G, <±5%, 超AAA級(jí);
4,輻射空間不均勻性:<1.5%,超AAA級(jí);
5,時(shí)間不穩(wěn)定性:<0.5%,超AAA級(jí);
6,輻射強(qiáng)度:輻射強(qiáng)度可調(diào)±30%;
7,連續(xù)照射模式;
主要特點(diǎn):
1,匹配國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):ASTM 超3A級(jí)標(biāo)準(zhǔn)、IEC 超3A級(jí)標(biāo)準(zhǔn)、JIS 超3A級(jí)標(biāo)準(zhǔn);
2,可以任意調(diào)節(jié)照射方向以及燈的位置;
3,用戶可自己設(shè)定任意光照強(qiáng)度;
4,燈使用壽命計(jì)時(shí);
另外,我公司提供專業(yè)太陽(yáng)能測(cè)試設(shè)備制造商為客戶提供全套專業(yè)的設(shè)備:
1.太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)、IPCE測(cè)試系統(tǒng)、量子效率測(cè)試系統(tǒng);
2.太陽(yáng)能電池測(cè)量系統(tǒng)(光譜響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng),IPCE測(cè)試系統(tǒng),量子效率測(cè)試系統(tǒng),I-V曲線測(cè)量系統(tǒng)),太陽(yáng)能電池測(cè)試儀;
3.太陽(yáng)能電池I-V曲線測(cè)量系統(tǒng);
4.I-V 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng);
5.大面積太陽(yáng)能模擬器/太陽(yáng)光模擬器/全光譜太陽(yáng)光模擬器;
6.太陽(yáng)能電池分選機(jī);
7.太陽(yáng)能電池I-V測(cè)試儀;
8.分光輻射度計(jì),
9.參考電池/標(biāo)準(zhǔn)電池,
10.太陽(yáng)能模擬器均勻性圖像分析系統(tǒng);
11.有機(jī)太陽(yáng)能電池載流子遷移率測(cè)量系統(tǒng);
12.鈣鈦礦太陽(yáng)能電池載流子遷移率測(cè)量系統(tǒng);
13.太陽(yáng)能電池少數(shù)載流子測(cè)量系統(tǒng);
暫無(wú)數(shù)據(jù)!