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目前常規(guī)電滯回線測試設(shè)備在高壓下測量電容能量密度存在的問題：待測樣品上的電荷被放回到高壓電源，而不是一個有效有意義的負載上。

問題主要表現(xiàn)為：

1）對電源放電時速度很慢(10-100毫秒)，而實際上對負載放電一般在微秒到毫秒；

2）對電源放電時待測電壓線形下降， 而對負載放電時電壓是指數(shù)下降；

3）電滯回線測量過程中程序控制的實際是電源輸出電壓（假設(shè)樣品電壓與電源電壓一樣），樣品能量放回到了高壓電源；

4）對負載放電時如同自由落體，電壓完全由樣品性能，負載（阻抗），與其中接線而定?？梢赃x擇一個與應(yīng)用相似的負載（成比例縮?。亩_測得一個與應(yīng)用相關(guān)的能量密度；

5）一般情況下由電滯回線測得的能量密度大于電容實際應(yīng)用時能放出的能量密度，可能會誤導(dǎo)用戶；

主要特點：1）本測試儀使用特殊高壓開關(guān)，分別控制充放電過程，其中放電開關(guān)速度極快，相應(yīng)速度在納秒量級；

2）使用高精度高壓無感電阻作為放電負載，放出的能量有示波器采集，并經(jīng)過程序分析直接給出放電能量密度；

3）兩種操作模式:

-手動控制：用戶手動控制充放電開關(guān)；

-自動控制：計算機程序自動控制測試過程，并保存測試結(jié)果。尤其適

合長期充放電壽命測試；

主要規(guī)格：1）測試電壓: 10 kV (由所選高壓開關(guān)決定)；

2）樣品電容: < 100 pF to > 100 μF；

3）放電**電流: < 15 A（放電開關(guān)型號決定）；

4）放電電阻: < 1Ω to > 1 MΩ；

5）放電速度: 高壓MOSFET 開關(guān)， 放電速度< 100納秒；

6）測試電流與電壓的精確度由所用電源，樣品大小與放電電阻綜合決定；

7）設(shè)備選項：測試溫度可以保存；

新加功能：1）測試介電壓電材料的介電擊穿強度：直流電擊穿，在恒定直流電壓擊穿時間（耐壓時間），交流擊穿強度，在恒定交流電壓擊穿時間（耐壓時間）；

2）能同時測試放電電流（在一定電流范圍內(nèi)）；

3）內(nèi)置示波器；

4）許使用特定的電感/電阻組合，研究放電震蕩；

5）允許反向電壓/電流；

6）提供軟硬件使得用戶可以極化壓電材料；

7）全新測試夾具；

8）定制低壓充放電測試薄膜樣品（100伏）；

歡迎垂詢！