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F50薄膜厚度測量儀
自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)
依靠F50先進(jìn)的光譜測量系統(tǒng),可以很簡單快速地獲得zui大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺,可以非??焖俚亩ㄎ凰铚y試的點(diǎn)并測試厚度,測試非??焖?,大約每秒能測試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。F50系統(tǒng)配置高精度使用壽命長的移動平臺,確保能夠做成千上萬次測量。
系統(tǒng)中預(yù)設(shè)了許多極坐標(biāo)形、方形和線性的圖形模式,也可以編輯自己需要的測試點(diǎn)。只需掌握基本電腦技術(shù)便可在幾分鐘內(nèi)建立自己需要的圖形模式。
可測樣品膜層
基本上所有光滑的。非金屬的薄膜都可以測量??蓽y樣品包括:
FILMeasure軟件提供兩種分析模式:Sepectru-Matching 與FFT。在Spectrum-Matching模式中,您可以分析厚度 與折射率。反正,FTT模式雖然只能測量厚度,但在較厚 的薄膜厚度測量,FFT的分析能力更為健全。
選擇Filmetrics的優(yōu)勢
• 桌面式薄膜厚度測量的全球**者
• 24小時電話,E-mail和在線支持
• 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標(biāo)準(zhǔn)分析軟件
附加特性
• 嵌入式在線診斷方式
• 免費(fèi)離線分析軟件
• 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能,幫助用戶有 效存儲,重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果
暫無數(shù)據(jù)!