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DECTRIS混合像素X射線探測(cè)器EIGER R

1、產(chǎn)品特點(diǎn)：

EIGER R 系列是DECTRIS公司的**一代實(shí)驗(yàn)室用混合光子計(jì)數(shù)探測(cè)器，將高分辨特點(diǎn)與廣受好評(píng)的單光子計(jì)數(shù)模式相結(jié)合。EIGER R 1M探測(cè)器像素大小僅為75μm，并設(shè)計(jì)有百萬(wàn)個(gè)像素，是名副其實(shí)的多用途探測(cè)器，且價(jià)格適中，適用于多種實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用領(lǐng)域。EIGER R 4M 探測(cè)器在尺寸上與 CCD 系列探測(cè)器和成像板探測(cè)器不相上下，但在采集效率、背景噪音和分辨能力等方面卻遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于后兩者。因此，EIGER R 探測(cè)器是當(dāng)之無(wú)愧的尖端探測(cè)器，可滿足*苛刻的實(shí)驗(yàn)需求。

充分利用單像素點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，可分辨大晶胞蛋白質(zhì)晶體樣品的衍射點(diǎn)，也能從織構(gòu)樣品（textured sample）采集高分辨率粉末衍射模式圖。連續(xù)的能量閾值和32bit的動(dòng)態(tài)范圍可進(jìn)一步提高信噪比，以滿足*苛刻的樣品測(cè)試需求。高達(dá)5×108 phs/s/mm2 的計(jì)數(shù)率，可準(zhǔn)確測(cè)量來(lái)自小分子晶體的高強(qiáng)度衍射點(diǎn)。使用**研制的此款HPC探測(cè)器，可充分發(fā)揮您實(shí)驗(yàn)室儀器的潛力。

2、核心優(yōu)勢(shì)：

– 混合光子計(jì)數(shù)：在單光子計(jì)數(shù)模式下直接探測(cè)X射線；

– 無(wú)讀出噪音或暗電流，實(shí)現(xiàn)**信噪比；

– 像素小，點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)窄，實(shí)現(xiàn)高空間分辨率；

– 無(wú)快門連續(xù)讀出；幀頻高達(dá) 10 Hz，占空比 ﹥99.6%；

– 計(jì)數(shù)率高達(dá) 5×108 phs/s/mm2；

– 連續(xù)可調(diào)的能量閾值可用于熒光抑制；

– 探測(cè)器的所有部件均可在室溫下操作；

– 可定制在真空環(huán)境下使用；

– 免維護(hù)。

3、應(yīng)用領(lǐng)域：

-大分子晶體學(xué)（MX）；

- 單晶衍射（SCD）；

- 粉末衍射（PD）；

- 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/WAXS）；

- X射線成像；

- 表面衍射；

- 漫散射。

4、技術(shù)參數(shù)：