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瑞士DECTRIS混合像素光子X射線探測(cè)器PILATUS3 R CdTe

1、產(chǎn)品特點(diǎn)：

PILATUS3 R CdTe系列結(jié)合了無(wú)噪聲單光子計(jì)數(shù)的優(yōu)點(diǎn)和在大型碲化鎘（CdTe）傳感器中直接檢測(cè)硬X射線的優(yōu)點(diǎn)。

與閃爍體的檢測(cè)器相比，混合像素中的直接檢測(cè)產(chǎn)生更銳利的信號(hào)和更好的空間分辨率。 CdTe為Mo，Ag和In輻射提供接近100％的吸收效率。結(jié)合無(wú)噪聲單光子計(jì)數(shù)，這將實(shí)驗(yàn)室中的X射線檢測(cè)帶入了一個(gè)新的靈敏度和準(zhǔn)確度水平。

實(shí)驗(yàn)室中的X射線源，尤其是硬X射線的X射線源比同步加速器弱得多，因此需要較長(zhǎng)的曝光時(shí)間并導(dǎo)致較弱的信號(hào)，由于沒(méi)有暗電流和讀出噪音，PILATUS3 R探測(cè)器超過(guò)了實(shí)驗(yàn)室的所有其他技術(shù)。單光子計(jì)數(shù)不含所有其他噪聲源以及CMOS電容檢測(cè)器內(nèi)置的不準(zhǔn)確性，例如復(fù)位噪聲和非線性電荷響應(yīng)。相反，由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供動(dòng)力的*快計(jì)數(shù)電子設(shè)備？結(jié)合精確的計(jì)數(shù)率校正提供寬泛的線性范圍，完全兼容所有實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用和先進(jìn)的X射線源。

具有挑戰(zhàn)性的實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用（如電荷密度研究和配對(duì)分布函數(shù)分析）依靠硬輻射和具有出色信噪比的數(shù)據(jù)，PILATUS3 R CdTe探測(cè)器系列提供了高效直接探測(cè)和無(wú)噪聲單光子計(jì)數(shù)的獨(dú)特組合，并且是實(shí)驗(yàn)室中這些要求的**匹配。2、核心優(yōu)勢(shì)

- Mo，Ag和In量子效率> 90％

- 直接檢測(cè)*清晰的空間分辨率

- 沒(méi)有讀出噪音，也沒(méi)有黑暗信號(hào)達(dá)到**精度

- 高動(dòng)態(tài)范圍

- 熒光背景抑制

- **的計(jì)數(shù)率

- 同步輻射證明的輻射硬度

- 免維護(hù)運(yùn)行

- 高可靠性：沒(méi)有容易發(fā)生故障的密封或復(fù)雜，冷卻至室溫以下

3、應(yīng)用領(lǐng)域

- 電荷密度分析

- 配對(duì)功能（PDF）分析

- 高分辨率化學(xué)結(jié)晶學(xué)

- 高壓/高溫XRD

- 關(guān)鍵尺寸SAXS

- 計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）

- 無(wú)損檢測(cè)（NDT）

4、技術(shù)參數(shù)：