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儀器簡介：飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS)是一種非常靈敏的表面分析技術。可以廣泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三維樣品的元素，分子等結構信息。

技術參數(shù)：

. 并行探測所有離子，包括有機和無機分子碎片。

. 無限的質量探測范圍（實際測量中大于1000m/z 原子量單位）。

. 完全透過率下實現(xiàn)高的質量分辨率。

. 極高的橫向和縱向空間分辨率（橫向小于100納米，縱向小于1納米）。

. 探測靈敏度可達ppm或ppb量級。

. 質量探測分辨率(M/ΔM) >1000

. 質量探測準確度 ≥20 milli 質量單位

. 反射性分析器

. 5 分鐘樣品腔真空度可從大氣環(huán)境達到真空工作環(huán)境

主要特點：

. 超高的表面靈敏度(1x109 atoms/cm2)

· 操作簡單(? day training)

· 1 分鐘分析，樣品處理流程 <7分鐘

· 導體和絕緣體表面均可測試

· 可得到元素和分子信息

· 從元素中分離出普通有機物

· 正電和負電的 二次離子質譜

· 同位素分析

· 分析面積 ~0.5 mm

· 濺射預清洗表面

· 提供材料數(shù)據(jù)庫

專業(yè)科研型飛行時間二次離子質譜

MS-1000簡易型飛行時間二次離子質譜，專業(yè)用于表面分析

• MS-1000臺式型，用于固體表面分子結構定性分析

• MS-1000是飛行時間二次離子質譜，屬于靜態(tài)模式的SIMS，對于樣品表面的分子非常敏感

• MS-1000相比其它SIMS，比較便宜，性能價格比高，方便使用，15分鐘可以得到樣品表面信息。

• MS-1000專業(yè)設計用于質量控制和錯誤診斷，生產(chǎn)時的指標監(jiān)測，以及其它表面分析手段做不到的領域.

• 質譜分析儀和離子槍設計成一體，使得MS-1000成為全球*小的靜態(tài)二次離子質譜!

MS-1000應用領域包括:

• 分析涂層中的膠黏劑以及復合材料

• 半導體制備中的污染，藥物生產(chǎn)的準備和環(huán)境監(jiān)測

• 生物體兼容性測試

• 快速檢測等離子體對樣品表面的處理和改性

• 涂料中預處理的有機粘合劑分析