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便攜式白光干涉儀能用來能測量和分析大型工件。該儀器可以直接放在表面測量。因?yàn)榈撞刻厥獾娜c(diǎn)設(shè)計(jì),該設(shè)備可以直接放在表面被測量,甚至彎曲表面是可以衡量的。數(shù)據(jù)分析是在筆記本或桌面電腦原位做的。這款白光干涉儀尺寸緊湊和結(jié)構(gòu)穩(wěn)健,因而可以用在許多不同的情況使用。除了平常的研究調(diào)查應(yīng)用,該設(shè)備主要是用來質(zhì)量管理和過程控制。這款白光干涉儀通過其快速、準(zhǔn)確的檢測,以**條件生成有意義的規(guī)格來確保產(chǎn)品和流程的質(zhì)量。
測量系統(tǒng) | ||||
測量原理 | 白光干涉法 | |||
z-定位系統(tǒng) | Piezo 物鏡調(diào)節(jié)系統(tǒng) | |||
高度測量范圍 垂直分辨率 | Up to 400 μm <1 nm | |||
光源 | LED | |||
尺寸 | 270x127x165 mm(HxWxD) | |||
物鏡放大倍數(shù) 橫向測量范圍 *小分辨率 | 10x or 20x 480x360 um² or 320x240 um² 1.20 um or 0.90 um | |||
測量時間 | < 1min. | |||
軟件 | ||||
smartWLI | 軟件用于測量地形和使用一個直接接口到MountainsMap分析軟件輸出的3D數(shù)據(jù),自動拼接模塊 | |||
MountainsMap® | 廣泛的分析軟件以及輪廓和三維可視化、測量數(shù)據(jù)預(yù)處理和后處理DIN EN ISO粗糙度和高度的含量測定,順序處理,測量記錄 | |||
文檔格式 | ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIFF |
暫無數(shù)據(jù)!