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美國(guó)Microvision System成立于1993年，是全球顯示器測(cè)試系統(tǒng)的主要供應(yīng)商，可以檢測(cè)FPD CRT，PLASMA， HDTV， OLED， HUD， HDD投影機(jī)等，應(yīng)用于R&D， QC及工業(yè)測(cè)試。Microvision System以技術(shù)先進(jìn)的產(chǎn)品及完善的售后服務(wù)，贏得用戶的尊敬。

系統(tǒng)功能說(shuō)明：

Microvision顯示器測(cè)量系統(tǒng)可選擇兩種取樣探頭SS410及SS420，使用一組抵用平臺(tái)和控制電腦，經(jīng)由專(zhuān)業(yè)控制軟件，進(jìn)行顯示器光學(xué)特性的自動(dòng)測(cè)量和分析。

SS445大屏幕顯示屏測(cè)量系統(tǒng)

系統(tǒng)簡(jiǎn)介：

SS445是一款顯示屏測(cè)試系統(tǒng)專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)于測(cè)量大屏幕顯示屏。這個(gè)包括了投影顯示屏高達(dá)電影院屏幕的尺寸，來(lái)自于任何一個(gè)現(xiàn)有的投影引擎技術(shù)。

系統(tǒng)采用了電動(dòng)Pan & Tilt機(jī)械實(shí)現(xiàn)移動(dòng)到所要的測(cè)試位置。系統(tǒng)配置了1.4MP CCD相機(jī)和/或者一個(gè)衍射光柵光譜儀。

在操作中，系統(tǒng)是固定在顯示屏的前方進(jìn)行測(cè)試的。模式發(fā)生器或者M(jìn)icrovision的MVRemote是用于自動(dòng)顯示測(cè)試模式或者有需要的話可通過(guò)客戶的系統(tǒng)生成圖像。

SS445專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)于從觀察器的角度來(lái)測(cè)量顯示屏，由于是真實(shí)可見(jiàn)的因此能更好地測(cè)量出顯示屏的性能。完全定義顯示屏可快速地測(cè)量出多個(gè)觀察器的位置。操作員進(jìn)入到所要的測(cè)試位置（X和Y或者像素坐標(biāo)），測(cè)試可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化，并且系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)找到以及在這些位置運(yùn)行所要進(jìn)行的測(cè)試。

測(cè)試性能：

SS445的測(cè)試性能包括了大型顯示屏的所有類(lèi)型測(cè)試。 這些系統(tǒng)的性能都由安裝了什么傳感器來(lái)決定的（相機(jī)和/或者光譜儀）?？偟目蓽y(cè)試參數(shù)如下：

CCD相機(jī)：

- MTF

- 線寬

- 幾何圖

- 收斂測(cè)量

- 亮度均勻度

- Jitter， Swim， Drift

- 伽馬/灰階

光譜儀

- 亮度

- 色度和色溫

- 亮度和色彩均勻度

- 頻譜圖

- 伽馬

- 對(duì)比度

- 色差

SS445 規(guī)格參數(shù)：

Pan&Tilt組件

- 分辨率：0.0032°

- 承載性能：9 lbs

CCD相機(jī)

- 圖像傳感器：1392x1040 pixels

- 數(shù)字視頻：12-Bit

- 元素尺寸：6.45 μm square pixels

- 同步：Synchronous Capture

- 視場(chǎng)：20mm @ 1m， adjustable

- 工作區(qū)域范圍：0.5 to 3.5 meters

- 數(shù)字變焦：Up to 32X

- 亮度精度：+/- 4% @ 2856k

- 亮度范圍：0.05 to 106 cd/m2 with ND Filters

- 測(cè)量時(shí)間：<1 sec for most measurements

光譜儀

- 波長(zhǎng)范圍：380 to 780nm (1000nm opt)

- 亮度范圍：0.01 to 500K cd/m2

- 亮度精度：+/-3% @ 2856 illuminant A

- 亮度重復(fù)率：RSD over 30 minutes < 0.5%，0.01 cd/m2 sensitivity is specified at 3% RSD

- 色彩精度：+/- 0.002 @ 2856K

- 色彩重復(fù)率：+/- 0.0005 @ 2856K

- 集成時(shí)間：16.7 – 5000 msec (sync@60hz)

- 溫度控制：Computer Controlled

- 光學(xué)：12mm Collimated

- 接受角度：1.5°

- 光學(xué)分辨率：3.8nmFWHM @ 100μm slit

- 校準(zhǔn)：NIST Traceable

- 操作溫度：5° to 30°C