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GL Spectis 8.0高靈敏度光譜分析儀介紹：

專為高精度光測試而設(shè)的先進(jìn)光譜輻射計，能減少光學(xué)雜散光

全新GL SPECTIS 8.0是一款獨特和綜合的光譜輻射計，具有高靈敏度薄型背照式CCD圖像傳感

器和減少光學(xué)雜散光的革新方法，這把光譜測量帶到了一個****的新高度。GL SPECTIS

8.0是市場上**一款使用創(chuàng)新OSR方法/減少光學(xué)雜散光/保證測試結(jié)果高精準(zhǔn)度的產(chǎn)品。結(jié)合

了高靈敏度光學(xué)系統(tǒng)，融合了薄型背照式CCD圖像傳感器，與傳統(tǒng)的實驗室測驗設(shè)備相比，

GL SPECTIS 8.0具備了許多傳統(tǒng)設(shè)備不具有的優(yōu)點。

主要特點：

薄型背照式CCD圖像傳感器

GL SPECTIS 8.0

l減少光學(xué)雜散光

l高靈敏度

l精準(zhǔn)的校準(zhǔn)

l低噪音

l高穩(wěn)定和重復(fù)性的測量

l操作簡單

不同的光源例如LED，熒光燈或者LCD顯示屏是需要不同的光學(xué)探測器。GL SPECTIS 8.0可實

現(xiàn)和多種設(shè)備結(jié)合使用的功能，提供不同光源、顯示屏以及LED光的測量方案。多種設(shè)備可以

滿足多種測量需求。為使儀器達(dá)到這種優(yōu)異的性能，GL Optic 與***別的供應(yīng)商合作為專業(yè)

市場的要求提供解決方案。

應(yīng)用領(lǐng)域：

l多種光源的測量：鹵素?zé)?，熒光?/span>

lLED測量以及測試，根據(jù)CIE 127:2007的標(biāo)準(zhǔn)

l顯示屏的測量

l工業(yè)應(yīng)用上的快速生產(chǎn)過程控制

**的光電子解決方案

GL SPECTIS 8.0的光學(xué)系統(tǒng)采用了光譜學(xué)**的技術(shù)解決方案。鏡面/光柵/鏡子光譜儀平臺使用

了硅透射光柵以及薄型背照式CCD圖像傳感器。該傳感器以及電子在熱方面穩(wěn)定以及軟件可以

持續(xù)監(jiān)測基礎(chǔ)線層面。透射光柵提供了**的透射性能以及高擴散效率。這些特征使積分時間

大大縮短了很多，這對于光源測量的高精準(zhǔn)度是非常重要的，以及在超快生產(chǎn)過程控制的領(lǐng)域

起到非常關(guān)鍵的作用。薄型背照式的CCD傳感器在寬光譜學(xué)范圍提供了非常高的量子效率。這

幫助了我們實現(xiàn)在UV，VIS 和NIR范圍的高精準(zhǔn)以及低噪音的光測量解決方案。這個平臺的高光

學(xué)分辨率在窄帶光源測量以及在工業(yè)領(lǐng)域里的快速光源測量提供了理想的測試方案。

參考數(shù)據(jù)：