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Microtech-太赫茲光譜儀

太赫茲光譜測量系統(tǒng)

美國Microtech Instruments Inc.擁有十幾年的THz相關(guān)實驗設(shè)備研發(fā)和生產(chǎn)經(jīng)驗，擁有齊全的THz實驗零組件產(chǎn)品線，可為您提供BWO系統(tǒng)、THz光學元件、THz透射/反射/干涉光譜系統(tǒng)和THz成像系統(tǒng)。

Microtech Instruments可提供整套的

-THz透射光譜系統(tǒng)

-THz反射光譜系統(tǒng)

-THz馬赫—曾德干涉光譜系統(tǒng)

成像系統(tǒng)

光柵掃描成像系統(tǒng)

Microtech太赫茲成像儀使用了和透射光譜系統(tǒng)相似的光學配置，但是使用了線性平臺用于支撐和移動在太赫茲光速焦點中的物體。中心焦點提供了高分辨率的hte成像儀和提供了高動態(tài)范圍，通過物體在小點聚焦整個信號。

關(guān)鍵特征包括：

- 可以結(jié)合BWO和TPO源使用

- 附帶軟件操作簡單、方便

- 是無損評估的理想工具

T-Vision：視頻流成像系統(tǒng)

T-Vision成像系統(tǒng)為需要高幀率的成像應(yīng)用提供了**的解決方案。T-Vision成像系統(tǒng)是一套完整的集成系統(tǒng)，集成了我們的TPO發(fā)生器和成像元件。成像是基于無線性進程，進程中hte太赫茲圖像是混合了近紅外脈沖，產(chǎn)生一個向上轉(zhuǎn)換的近紅外圖像用于和CMOS相機探測使用。該系統(tǒng)可根據(jù)客戶具體需求客制化。用戶可根據(jù)具體的應(yīng)用需求自行搭建不同的基于BWO返波管的THz光譜系統(tǒng)。

太赫茲光譜系統(tǒng)

緊湊型太赫茲光譜測量系統(tǒng)

美國Microtech Instruments公司的緊湊型的太赫茲測量光譜系統(tǒng)提供了光譜范圍為100 GHz 到1.5 THz.的透射測量。這些系統(tǒng)是基于毫米波回波振蕩器(BWO's)結(jié)合頻率倍頻器和寬波段熱電探測器。

太赫茲光譜系統(tǒng)提供了高分辨率光譜范圍從180 GHz 到1.42 THz的光譜測量。這些系統(tǒng)運用了頻率可調(diào)諧回波振蕩器(BWOs)作為太赫茲輻射源和戈利細胞探測器。

主要特點包括：

- 光譜范圍：100 GHz - 1.5 THz

- 光譜分辨率：1 - 10 MHz

- 動態(tài)范圍：10^4

太赫茲透射光譜系統(tǒng)

使用透射光譜系統(tǒng)進行透射測量是對完全透明的材料進行特征分析的**的工具和方法。特別地，平面平行板的透射光譜由于干涉(Fabry-Perot etalon fringes)的原因表現(xiàn)出周期性的透射模式?？赏ㄟ^這些測量決定介電常數(shù)實部和虛部，因為校準器邊緣的周期和振幅分別決定了材料折射指數(shù)和吸收度。

對半透明的材料進行特征分析則需要使用太赫茲馬赫—曾德干涉光譜系統(tǒng)，這是因為這樣的材料透射光譜中無法觀察到校準邊緣。馬赫—曾德裝置保證了樣本作為頻率函數(shù)所引發(fā)的相位偏移測量。結(jié)合分析這個數(shù)據(jù)和透射光譜，可計算出介電常數(shù)實部和虛部。

馬赫—曾德干涉光譜系統(tǒng)

對半透明的材料進行特征分析則需要使用太赫茲馬赫—曾德干涉光譜系統(tǒng)，這是因為這樣的材料透射光譜中無法觀察到校準邊緣。馬赫—曾德裝置保證了樣本作為頻率函數(shù)所引發(fā)的相位偏移測量。結(jié)合分析這個數(shù)據(jù)和透射光譜，可計算出介電常數(shù)實部和虛部。

對全吸收的材料進行特征分析只可以通過反射幾何。

太赫茲反射光譜系統(tǒng)

不透明材料的特征分析需要反射光譜系統(tǒng)。這是因為透射信號太弱以致不能進行特征分析。系統(tǒng)使用6軸控制來測量反射信號。通過這個透射和相位光譜系統(tǒng)的折射指數(shù)，可從軟件的理論擬合能力快速計算出吸收系數(shù)和介電常數(shù)實部和虛部。

透射、馬赫—曾德和反射光譜系統(tǒng)都是使用了TScan軟件，保證了自動數(shù)據(jù)采集和分析。一個光譜掃描花費1-5分鐘對于系統(tǒng)中運用的每個BWOs。