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Imatest 隨機(jī)圖案 (噪點(diǎn)) 測(cè)試卡
Imatest Random Pattern chart(隨機(jī)圖案測(cè)試卡)也是用來測(cè)試紋理銳度的Dead Leave測(cè)試卡的另一版本。Random Pattern 是專門用來減少噪聲的：處理極小化銳度時(shí)采用極大化減少噪聲方法，來提高檢測(cè)的精確度和穩(wěn)定性。另外，灰色地帶往測(cè)試卡左右兩邊能夠促進(jìn)去噪效果（采用一種技術(shù)將灰斑噪聲的PSD(功率譜密度)從中心Spill coins區(qū)域的信號(hào)噪聲PSD中除去）。
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