參考價格
面議型號
E1000 化合物半導體缺陷檢測設備品牌
昂坤視覺產(chǎn)地
北京樣本
暫無看了E1000 化合物半導體缺陷檢測設備的用戶又看了
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
E1000 化合物半導體缺陷檢測設備
Eagle1000 化合物半導體缺陷檢測設備可以檢測藍寶石,砷化鎵,鉭酸鋰,石英玻璃,磷化銦等襯底及外延片。可以檢測并區(qū)分顆粒(particle)、凹坑(pit)、凸起(bump)、劃傷(scratch)、污點(stain)、裂紋(crack)等缺陷,*小可檢測缺陷81nm;支持4@、6@、8@晶圓檢測,具有高產(chǎn)能、檢測準確和檢出率高的優(yōu)點。
適應晶圓尺寸Wafer Size
l Size: 4", 6", 8" compatible; 標配4 cassettes; other size upon request
l Thickness: 350um~1500um(其它厚度需要測試)
暫無數(shù)據(jù)!