誤差率：
-分辨率：
-重現(xiàn)性：
-分散方式：
-測量時(shí)間：
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Fastmicro 環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀 PFS
Fastmicro 環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀，專為潔凈室顆粒沉積速率測量而研發(fā)，支持秒級間隔的數(shù)據(jù)采集，精準(zhǔn)測量 0.5 um 以上顆粒。結(jié)合直觀易用的軟件系統(tǒng)，幫助客戶實(shí)現(xiàn)從單純空氣監(jiān)測向表面潔凈度監(jiān)測的跨越式升級，為工藝流程優(yōu)化和潔凈度持續(xù)改進(jìn)提供科學(xué)依據(jù)。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
數(shù)據(jù)輸出及可視化：符合 ISO 14644-17 標(biāo)準(zhǔn)
高通量檢測：可檢測低至 0.5 um 顆粒
快速：10 秒完成 2 英寸面積檢測
定量：適用于生產(chǎn)與研發(fā)環(huán)境的驗(yàn)證與監(jiān)測
生產(chǎn)過程中的一致性測量
快速: 秒級連續(xù)監(jiān)測
定量: 適用于生產(chǎn)與研發(fā)環(huán)境的驗(yàn)證與監(jiān)測
易操作: 操作員簡單培訓(xùn)即可使用
精準(zhǔn): 高分辨率測量（數(shù)量、時(shí)間線、位置、尺寸）
一致性: 可重復(fù)的客觀測量結(jié)果
高吞吐量: 現(xiàn)場實(shí)時(shí)分析
監(jiān)測顆粒沉積速率（DPRL）
Fastmicro 環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀（PFS）采用緊湊的工 業(yè)設(shè)計(jì)，依據(jù) ISO 14644-9 和 ISO 14644-17 標(biāo)準(zhǔn)，監(jiān)測顆 粒沉積速率（DPRL）。該設(shè)備使工藝/質(zhì)量工程師能夠?qū)崟r(shí) 監(jiān)控潔凈室環(huán)境中關(guān)鍵區(qū)域的顆粒沉降情況。
在關(guān)鍵區(qū)域?qū)崿F(xiàn)持續(xù)監(jiān)測
區(qū)別于傳統(tǒng)的僅監(jiān)測空氣懸浮顆粒，該系統(tǒng)可以對關(guān)鍵表 面的顆粒污染控制和潔凈度驗(yàn)證進(jìn)行持續(xù)監(jiān)測。 亞微米級顆粒并非始終懸浮于空氣中，它們可能沉積于關(guān) 鍵表面，影響技術(shù)潔凈度與產(chǎn)品質(zhì)量。
該儀器采用 2 英寸晶圓采集環(huán)境中的落塵顆粒，并可每 隔 10 秒左右對晶圓表面的顆粒進(jìn)行連續(xù)粒子沉降監(jiān)測。 其檢測粒徑尺寸為 ≥0.5（通過 NIST 認(rèn)證），并準(zhǔn)確量化 沉降速率。 軟件界面簡單直觀，可以一鍵生成報(bào)告。
Fastmicro PFS 是 唯 一 一 款 高 精 度 原 位 檢 測 顆 粒 的 儀 器，幫 助 工 程 師 應(yīng) 對潔凈工藝控制挑戰(zhàn)。
結(jié)合 Phenom XL 掃描電鏡，可以 便捷高效的進(jìn)一步對顆粒物進(jìn)行成分表征和溯源分析。
暫無數(shù)據(jù)！
今年 11 月 2 日起，每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn)，包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得，不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車，因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代，生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此，潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì)，而控制
2020-12-21
2020-12-21
INVITATION 第二屆人工智能傳感器與換能器國際會(huì)議將于 7 月 29 日- 8 月 3 日在馬來西亞吉隆坡舉辦。我們誠摯邀請您參加并蒞臨我們的【2】號展位，與技術(shù)銷售工程師 Vinc
近日，揚(yáng)州小天光子科技有限公司（以下簡稱“小天光子”）成功引入桌面掃描電鏡領(lǐng)導(dǎo)者---飛納電鏡旗下的旗艦設(shè)備 Phenom ProX G6 掃描電鏡能譜一體機(jī)，并順利完成了安裝與驗(yàn)收，正式投
汽車清潔度管控 Phenom Scientific 清潔度一般指汽車零件、總成及整機(jī)等部位被顆粒物污染的程度，用規(guī)定的方法從特定的部件采集到顆粒物的質(zhì)量、大小、形狀、
摘要：隨著汽車工業(yè)對質(zhì)量與可靠性的要求日益提升，汽車清潔度檢測已成為保障關(guān)鍵零部件穩(wěn)定運(yùn)行的核心環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)方法難以滿足對微小顆粒的識(shí)別需求，因此，先進(jìn)的掃描電鏡（SEM）技術(shù)正被廣泛應(yīng)用于清潔度分析領(lǐng)
掃描電鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）作為半導(dǎo)體行業(yè)中不可或缺的高精度檢測工具，憑借其納米級分辨率和強(qiáng)大的表征能力，已廣泛應(yīng)用于芯片制造、材料開發(fā)、失效分析、工
掃描電子顯微鏡樣品制備全攻略：從原理到實(shí)踐掃描電子顯微鏡（SEM）是研究材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)等領(lǐng)域。經(jīng)過半個(gè)多世紀(jì)的發(fā)展，現(xiàn)代掃描電鏡不僅具備高分辨率形貌
環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀 PFS的工作原理介紹？環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀 PFS的使用方法？環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀 PFS多少錢一臺(tái)？環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀 PFS使用的注意事項(xiàng)環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀 PFS的說明書有嗎？環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀 PFS的操作規(guī)程有嗎？環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀 PFS的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀 PFS有現(xiàn)貨嗎？環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀 PFS包安裝嗎？
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