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HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列
HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列圖片

本圖片來自HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部提供的HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列,型號為SZ-100系列的HORIBAzeta電位儀,產(chǎn)地為日本,屬于品牌,參考價格為面議,公司還可為用戶供應(yīng)高品質(zhì)的HORIBA粒徑分析儀LA-960、HORIBA激光粒度分布分析儀 LA-300等產(chǎn)品。HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部是中國粉體網(wǎng)的白金會員,合作關(guān)系長達(dá)18年,工商信息已通過人工核驗,獲得粉享通誠信認(rèn)證,請放心選擇!

HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部

白金會員18年
營業(yè)執(zhí)照已認(rèn)證
品牌性質(zhì):代表處
廠商榮譽:
電話咨詢
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核心參數(shù)
  • 誤差率:

    -
  • 分辨率:

    -
  • 重現(xiàn)性:

    -
  • 儀器原理:

    其他
  • 分散方式:

    -
  • 測量時間:

    2分鐘
  • 測量范圍:

    0.3nm-8.0μm
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