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這款四點(diǎn)探針系統(tǒng)是一款易于使用的工具，用于快速測(cè)量材料的薄層電阻，電阻率和電導(dǎo)率。通過(guò)使用我們自己的源測(cè)量單元，我們能夠創(chuàng)建一個(gè)低成本的系統(tǒng)，使測(cè)量范圍更廣泛。探頭采用彈簧加載接觸，而不是尖銳的針頭，防止損壞精密樣品，如厚度在納米左右的聚合物薄膜。

四點(diǎn)探針系統(tǒng)為您的研究提供以下益處：

?廣泛的薄膜電阻測(cè)量范圍，從10mΩ/□到10MΩ/□

?彈簧加載的探針保護(hù)易損的樣品免受損壞

?體積小巧，可用于空間有限的繁忙實(shí)驗(yàn)室

?易操作的PC軟件，用于薄膜電阻，電阻率和電導(dǎo)率的測(cè)量

?使用自動(dòng)校正因子計(jì)算加快材料表征

?使用保存設(shè)置可輕松重復(fù)測(cè)量

特征：

廣泛的測(cè)量范圍 - 四點(diǎn)探頭能夠提供10 nA-100 mA的電流，并且可以測(cè)量低至100μV-10 V的電壓。廣泛的薄層電阻測(cè)量范圍，從10mΩ/□到10MΩ/□，可表征多種材料。

非破壞性測(cè)試 - 設(shè)計(jì)時(shí)考慮到了精密樣品的測(cè)量，四點(diǎn)探頭采用鍍金彈簧接觸圓頭， 60克的恒定接觸力，防止探針刺破脆弱的薄膜，同時(shí)仍能提供良好的電接觸。

節(jié)省空間的設(shè)計(jì) - 通過(guò)垂直堆疊組件，我們能夠?qū)⑺狞c(diǎn)探頭的占地面積降至*低（總臺(tái)面面積12 cm x 30 cm），甚至可以在缺乏貨架空間的實(shí)驗(yàn)室中使用。

易于使用 - 只需插入系統(tǒng)，安裝軟件，即可開(kāi)始使用！直觀的界面和清潔的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)化了薄膜電阻的測(cè)量。

快速材料表征 - PC軟件可執(zhí)行薄膜電阻，電阻率和電導(dǎo)率所有必要的測(cè)量和計(jì)算，從而使材料表征變得毫不費(fèi)力。

不要忘記保存您的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù) - 用于測(cè)量的設(shè)置會(huì)與數(shù)據(jù)一起保存，從而輕松查看實(shí)驗(yàn)的詳細(xì)信息。此外，這些設(shè)置文件可以通過(guò)相同的軟件加載，加快重復(fù)測(cè)量和材料表征。用更少的時(shí)間重復(fù)測(cè)量，您的研究成果可以顯著增加

應(yīng)用示例：

材料特性 - 電阻率是材料的固有特性，也是重要的電學(xué)特性。它可以通過(guò)測(cè)量已知厚度的薄膜薄層的電阻來(lái)確定，這使得四點(diǎn)探針測(cè)量成為材料電特性的關(guān)鍵技術(shù)。

薄膜太陽(yáng)能電池和發(fā)光二極管 - 薄膜器件（如鈣鈦礦太陽(yáng)能電池或有機(jī)發(fā)光二極管）需要薄的導(dǎo)電電極，橫向輸送電荷以進(jìn)行提取。因此，需要低表面電阻材料來(lái)減少這個(gè)階段的潛在損失。當(dāng)試圖放大這些設(shè)備時(shí)，這變得更加重要，因?yàn)殡姾稍谒鼈兛杀惶崛≈?，不得不沿著電極方向行進(jìn)。

測(cè)量規(guī)格